若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。 A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。

A、用刀口尺以光隙法检定

B、用平晶的技术光波干涉法检定

C、用刀口尺以量块比较法检定

相关考题：

不论哪种量具,凡有平工作面的,均有平面度要求,那么平面度是指包容()且距离为最小的()之间的距离。
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在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。 A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。 A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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用刀口尺(样板直尺)检定工作面的平面度时,通常用光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于()。 A、0.010mmB、0.005mmC、0.003mm
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某平面对基准平面的平行度公差为0.05mm，那么该平面的平面度公差应当不大于0.05mm。
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5、5.（) 某平面的平面度公差为0.005 mm，那么该平面对基准面的平行度公差可以小于0.005mm。
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5.（) 某平面的平面度公差为0.005 mm，那么该平面对基准面的平行度公差可以小于0.005mm。
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25、若某平面的平面度误差为f，则该平面对基准平面的平行度误差允许大于f 。
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1、某平面对基准平面的平行度公差为0.05mm，那么该平面的平面度公差应当不大于0.05mm。
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