千分尺的固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线,微分筒圆周上均匀刻有50格。因此,微分筒每转一格时,测微螺杆就移进()mm。
千分尺微分筒上均匀刻有()格。 A、50B、100C、150D、200
干分尺固定套筒上每格刻0.5mm,活动套筒圆周上刻50格,因此活动套筒转()时,轴杆就推进0.01mm。 A、0.5格B、50格C、10格D、1格
测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。 A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
千分尺在微分筒的圆锥面上刻有()条等分的刻线。 A、10B、20C、30D、50
千分尺微分筒上的刻线间距为1mm。此题为判断题(对，错)。
千分尺的固定套筒上刻有间隔为( )的刻线，微分筒圆周上均有刻有50格。因此微分筒每转一格时，测微螺杆就移进( )
若千分尺的测量螺杆的螺距为0.5mm，则微分筒圆周上的刻度为（）。
千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A、横刻线B、零线C、纵刻线D、没有关系
外径千分尺中测微螺杆的螺距为0.5mm；微分筒每转一周，测微螺杆沿轴线移动0.5mm。微分筒的锥面，由均匀分布的刻线将其分成50格，所以当微分筒每转一小格时，测微螺杆沿轴线移动0.1mm。
校对千分尺零位时，微分筒上的（）应与固定套筒的（）为准，微分筒垂直的（）应与固定套筒的（）相切。
在精度为0.01mm的外径千分尺固定套筒上，轴向中线的两侧分别刻有1mm和5mm的刻线。
千分尺的测微螺杆的螺距为0.5mm，固定套的刻线距离每格为（）mm，当微分角转一周时，测微螺杆就移动（）mm，微分角圆周斜面上均匀刻（）格。
对于0~25mm的千分尺，测量前应将两测量面接触，活动套筒上的零刻度线应与固定套筒上的零刻线对齐。
当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
检定千分尺刻线宽度及刻线宽度差，要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15±0.05mm，刻线宽度差应不大于（）A、0.04mmB、0.05mmC、0.06mm
千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
千分尺固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线5，微分筒圆周上均匀刻有50格。微分筒每转一格，测微螺杆就移进（）mm。
外径百分尺固定在套筒（主尺）上，每格刻度为0.5mm，活动套筒圆周上共刻（）格。A、40B、50C、60D、100
填空题千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
判断题千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。A对B错
填空题若千分尺的测量螺杆的螺距为0.5mm，则微分筒圆周上的刻度为（）。
单选题在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A横刻线B零线C纵刻线D没有关系