超声波探伤时,可以通过缺陷脉冲在荧光屏上的位置确定缺陷在工件中的位置,但是无法确定缺陷的大小。

超声波探伤时,可以通过缺陷脉冲在荧光屏上的位置确定缺陷在工件中的位置,但是无法确定缺陷的大小。


相关考题:

锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。 A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部

超声波探伤利用缺陷处反射回来的超声波并在仪器上显示来分析判断缺陷,而对工件没有损伤.所以称无损探伤。()

锻件探伤中,荧光屏上出现”林状(丛状)波“时,是由于()A.工件中有小而密集缺陷B.工件材料中有局部晶粒粗大区域C.工件中有疏松缺陷D.以上都有可能

通过零件表面由探头通至金属内部,遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波,在荧光屏上形成脉冲波形,根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小的检测技术为( )。A.X 射线探伤B.超声波探伤C.涡流检测D.磁粉检测

超声波探伤是利用超声振动以波动形式在工件内部传播,当工件内存在缺陷时,超声波则被反射回来,凭借仪器荧光屏显示判断缺陷的图形(大小)和位置。

钢板超声波探伤,若仪器荧光屏上同时显示底波,缺陷回波,则存在大于声束直径的缺陷。

射线探伤可以显示出缺陷在焊缝内部的形状、位置和大小。

只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。

锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部

锻件探伤中,荧光屏上出现“林状(丛状)波”时,是由于()A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能

锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于()A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部

锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部

脉冲反射法是利用超声波在两种不同的介质表面上发生的反射作用,由脉冲反射式的超声波探伤仪发射超声波,并将反射回来的超声声波接收放大,在荧光屏上用可见光波的形式显示出来,当工件内部没有缺陷时,则荧光屏上只有底波、始波,而没有缺陷的反射波。

锻件探伤时,()会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部

只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度。

A型超声波探伤仪,荧光屏上的垂直显示表示()。A、回波大小B、缺陷位置C、材料厚度D、传播时间

用K2探头探测厚度T=25mm焊缝,按水平1:1定位,缺陷在荧光屏出现的位置分别为40和80,求缺陷在焊缝中的深度。

C型显示探伤仪荧光屏上可显示出工件内部缺陷的(),但不能显示()。

超声波探伤中通过缺陷脉冲在荧光屏上的位置可以判别缺陷的大小。

()系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。

在工业设备的各种无损探伤方法中,()可以探测工件内部的缺陷,主要用于检验焊缝中有无气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷。A、超声波探伤B、磁粉探伤C、荧光探伤D、着色探伤

填空题()系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。

问答题用K2探头探测厚度T=25mm焊缝,按水平1:1定位,缺陷在荧光屏出现的位置分别为40和80,求缺陷在焊缝中的深度。

单选题A型超声波探伤仪,荧光屏上的垂直显示表示()。A回波大小B缺陷位置C材料厚度D传播时间

填空题C型显示探伤仪荧光屏上可显示出工件内部缺陷的(),但不能显示()。

单选题锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于()A工件中有大面积倾斜缺陷B工件材料晶粒粗大C工件中有密集缺陷D以上全部

问答题焊缝探伤中,如何测定缺陷在焊缝中的位置?