在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表闭环检测码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表LU码。A、10.3HzB、12.5HzC、11.4HzD、13.6Hz
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为14.7Hz时，其代表（）码。A、U2B、载频切换C、闭环检测D、LU
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为11.4Hz时，其代表（）码。A、L3B、L2C、LD、LU
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为16.9Hz时，其代表（）码。A、UB、HUC、HD、UU
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U码。A、16.9HzB、26.8HzC、29HzD、18Hz
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U2码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主轨道输出电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨出1测试孔B、衰耗盒轨出2测试孔C、衰耗盒GJ（Z）测试孔D、衰耗盒GJ（B）测试孔
ZPW-2000轨道电路，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为12.5Hz时，其代表（）码。A、L3B、L2C、LD、LU
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表载频切换码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为18Hz时，其代表（）码。AUBHUCHDUU
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表LU码。A10.3HzB12.5HzC11.4HzD13.6Hz
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨入测试孔B衰耗盒轨出1测试孔C衰耗盒轨出2测试孔D衰耗盒GJ测试孔
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表载频切换码。A14.7HzB25.7HzC27.9HzD26.8Hz
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U2码。A14.7HzB25.7HzC27.9HzD26.8Hz
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表L码。A10.3HzB12.5HzC11.4HzD13.6Hz
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为10.3Hz时，其代表（）码。AL3BL2CLDLU
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为14.7Hz时，其代表（）码。AU2B载频切换C闭环检测DLU
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表闭环检测码。A14.7HzB25.7HzC27.9HzD26.8Hz
单选题ZPW-2000轨道电路，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为12.5Hz时，其代表（）码。AL3BL2CLDLU
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为27.9Hz时，其代表（）码。AU2B载频切换C闭环检测DLU