用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线方位上出现两边有1um间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2um间隙量,试求该面的平面度?

用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线方位上出现两边有1um间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2um间隙量,试求该面的平面度?


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用()刀口尺以光隙法检定齿厚游标卡尺齿高量爪测量面的直线度时,不应有()。

高度游标卡尺量爪测量面的平面度用()刀口直尺检定,底座工作面用()刀口直尺以光隙法检定。

对分度值为0.02mm的游标卡尺,检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以()方法检定。A、比较法B、技术光波干涉法C、光隙法

对分度值为0.02mm的游标卡尺,用0级样板直尺(刀口尺)以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定。

长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定

用刀口尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,采用此法检定其间隙量一般不大于()。A、0.010mmB、0.005mmC、0.003mm

柱式轮廓标的表面平面度用()测量。A、钢卷尺B、游标卡尺C、千分尺D、刀口尺

检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线位上出现两边有1μm间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2μm的间隙。试求该平面的平面度。

在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及()方向上进行.A、轴向B、径向C、对角线

若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

用刀口尺检定游标卡尺的平面度时,应在测量面纵、横向中间和两对角线四个方位检定。如检定时光隙在某一方位出现在中间部位,另一方位出现在两边部位时,则测量面的平面度以中间部位最大光隙量与两边部位最大光隙()确定。A、之和B、之和的1/2C、之差

游标卡尺的检定项目中,()检定项目对于使用中的游标卡尺可不检定。A、刻线宽度和刻线宽度差B、外量爪测量面的平面度C、零值误差

单选题深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及()方向上进行.A轴向B径向C对角线

单选题用刀口尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,采用此法检定其间隙量一般不大于()。A0.010mmB0.005mmC0.003mm

单选题对分度值为0.02mm的游标卡尺,检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以()方法检定。A比较法B技术光波干涉法C光隙法

多选题用光隙法检查某平面的平面度时,如何确定平面度()。A当所有检定方位上出现的光隙均在中间或两端时,取其中一最大方位作为其平面度B当其中有的方位中间部分由间隙,有的方位两端有间隙,则平面度以中间和两端最大间隙之和确定C当其中有的方位中间部分由间隙,有的方位两端有间隙,则平面度以中间和两端最大间隙之差确定

单选题用刀口尺/样板直尺检定工作面的平面度时,通常以光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于()A0.010mmB0.005mmC0.003mm

判断题对分度值为0.02mm的游标卡尺,用0级样板直尺(刀口尺)以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定。A对B错

单选题柱式轮廓标的表面平面度用()测量。A钢卷尺B游标卡尺C千分尺D刀口尺

问答题用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线方位上出现两边有1um间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2um间隙量,试求该面的平面度?

问答题用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线位上出现两边有1μm间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2μm的间隙。试求该平面的平面度。

单选题在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A0.001mmB0.002mmC0.003mm

单选题长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A用刀口尺以光隙法检定B用平晶以技术光波干涉法分段检定C用自准直仪以节距法检定

填空题高度游标卡尺量爪测量面的平面度用()刀口直尺检定,底座工作面用()刀口直尺以光隙法检定。