单选题显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用()A低倍目镜与低倍物镜组合B低倍目镜与高倍物镜组合C高倍目镜与高倍物镜组合D高倍目镜与低倍物镜组合E以上均不是
单选题
显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用()
A
低倍目镜与低倍物镜组合
B
低倍目镜与高倍物镜组合
C
高倍目镜与高倍物镜组合
D
高倍目镜与低倍物镜组合
E
以上均不是
参考解析
解析:
暂无解析
相关考题:
射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处理的底片上出现B的亮图像,则认为()A、这一张底片对比度高,像质好B、这一张底片清晰度高,灵敏度高C、这一张底片受正向散射线影响严重,像质不符合要求D、这一张底片受背向散射影响严重,像质不符合要求
单选题射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处理的底片上出现B的亮图像,则认为()A这一张底片对比度高,像质好B这一张底片清晰度高,灵敏度高C这一张底片受正向散射线影响严重,像质不符合要求D这一张底片受背向散射影响严重,像质不符合要求
单选题为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时,需要()A较低的管电压B较多的曝光时间C较低的管电流D较短的曝光时间