单选题显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用()A低倍目镜与低倍物镜组合B低倍目镜与高倍物镜组合C高倍目镜与高倍物镜组合D高倍目镜与低倍物镜组合E以上均不是

单选题
显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用()
A

低倍目镜与低倍物镜组合

B

低倍目镜与高倍物镜组合

C

高倍目镜与高倍物镜组合

D

高倍目镜与低倍物镜组合

E

以上均不是


参考解析

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由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊形式表现为()A、底片的衬度差B、底片上出现斑点C、底片上发生严重灰雾D、底片的分辨率差

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拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片,一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光。

拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片,一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光。

拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片,一般可采用荧光增感屏法。

射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量

拍摄具有厚薄差异的试件时,为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片,一般可采用在暗盒内同时装两张具有()。

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

用显微镜对物体作显微摄影时,用波长较短的光照射较好,是因为()A、波长越短,分辨率越高B、波长越短,底片越易感光C、波长越短,显微镜放大率越大D、以上都不对

显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用()A、低倍目镜与低倍物镜组合B、低倍目镜与高倍物镜组合C、高倍目镜与高倍物镜组合D、高倍目镜与低倍物镜组合E、以上均不是

下列“像”中属于虚像的是。()A、平面镜成像B、电影屏幕上的像C、相机底片上的像。

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。()

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判断题对曝光不足的底片,可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度,从而获得符合要求的底片。A对B错

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