判断题采用双探头串列法扫查焊缝时,位于焊缝深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出现在荧光屏上同一位置。A对B错

判断题
采用双探头串列法扫查焊缝时,位于焊缝深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出现在荧光屏上同一位置。
A

B


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是()A.斜平行扫查B.串列扫查C.双晶斜探头前后扫查D.交叉扫查

对厚焊缝进行串列法探伤时,探头的移动方式分别为()和()两种串列扫查形式。

板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是()A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查

板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方法时()A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

如果采用两个探头串列扫查技术检查板材或平板对接焊缝时,发现一个不连续性反射信号。该不连续性可能位于()A、接近于前表面B、在底面附近C、在板的中部D、以上都有可能

焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自()A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部

焊缝斜角探伤时,荧光屏上的反射波来自:()A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部

厚焊缝采用串列法扫查时,如焊缝余高磨平,则不存在死区。

双K1探头探测钢轨焊缝时,缺陷在轨腰部位仪器扫查过程中会产生()次失底波现象。

焊缝探伤时,斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、()、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。

当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查?

对接焊缝超探时,探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测()A、横向裂纹B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都不对

在对接焊缝超探时,探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测:()。A、横向裂缝B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都对

在役焊缝双探头法宜用()探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8~K1

填空题焊缝探伤时,斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、()、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。

判断题斜探头在磨平的焊缝上进行扫查,主要用于检测纵向缺陷。A对B错

判断题采用双探头串列法扫查焊缝时,位于焊缝深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出现在荧光屏上同一位置。A对B错

填空题双K1探头探测钢轨焊缝时,缺陷在轨腰部位仪器扫查过程中会产生()次失底波现象。

单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方法时()A斜平行扫查B串列扫查C双晶斜探头前后扫查D交叉扫查

判断题《钢轨探伤管理规则》规定,焊缝探伤应采用单探头和双探头两种方法从焊缝一侧进行扫查。A对B错

判断题厚焊缝采用串列法扫查时,如焊缝余高磨平,则不存在死区。A对B错

单选题在对接焊缝超探时,探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测:()。A横向裂缝B夹渣C纵向缺陷D以上都对

单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是()A斜平行扫查B串列扫查C双晶斜探头前后扫查D交叉扫查

单选题在役焊缝双探头法宜用()探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。AK1BK2CK3DK0.8~K1

填空题对厚焊缝进行串列法探伤时,探头的移动方式分别为()和()两种串列扫查形式。

单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷