问答题用CCD做几何尺寸测量时应该如何由像元数确定测量精度？

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用CCD做几何尺寸测量时应该如何由像元数确定测量精度？

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单选题射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。A测量缺陷的大小B测量缺陷的位置C测量缺陷的几何不清楚度D确定底片的彩像质量
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单选题量具是指用于测量和检查物件尺寸大小、几何精度及（）的计量工具的统称。A几何形状B表面粗糙度C水平度D曲线尺寸
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