下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价,为使波束垂直射及缺陷的最大表面,则要() A、改变频率B、调整波束入射角C、打磨探侧面D、提高探伤灵敏度
锻件探伤时，我们希望将超声波束的传播方向（）A、与锻件变形方向一致B、与锻压变形方向垂直C、与受力方向一致D、与受力方向平行
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）A、垂直法B、斜射法C、表面波法
垂直法探伤应用（）探头，将波型为（）的波束垂直入射至工件探测面，以不变的（）和（）射入工件。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A、超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B、超声波束与缺陷最大表面平行C、底面回波次数尽可能地多D、超声波束与试件底面垂直
若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A、改变频率B、调整波束入射角C、打磨探测面D、提高探伤灵敏度
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
使用两只独立的探头在被检工件相对探测面进行探伤的方法称为（）。A、接触探伤法B、表面波探伤法C、穿透探伤法D、兰姆波探伤法
芯片与探测面平行，使超声波垂直与探测进入材料的检验方法称为（）。A、直射法B、斜射法C、表面波法D、上述三种都不对
超声波探伤，根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法称为（）。
用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探伤方法是（）探伤。
单选题锻件探伤时，我们希望将超声波束的传播方向（）A与锻件变形方向一致B与锻压变形方向垂直C与受力方向一致D与受力方向平行
单选题若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A改变频率B调整波束入射角C打磨探测面D提高探伤灵敏度
单选题使用两只独立的探头在被检工件相对探测面进行探伤的方法称为（）。A接触探伤法B表面波探伤法C穿透探伤法D兰姆波探伤法
填空题垂直法探伤应用（）探头，将波型为（）的波束垂直入射至工件探测面，以不变的（）和（）射入工件。
单选题用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B超声波束与缺陷最大表面平行C底面回波次数尽可能地多D超声波束与试件底面垂直
单选题晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）A垂直法B斜射法C表面波法
单选题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A直射B扫查C反射D折射
判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A对B错
单选题使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。A垂直法B共振法C穿透法D斜射法