DW检验的假设条件有( )。Ⅰ.回归模型不含有滞后自变引作为解释变量Ⅱ.随机扰动项满足Ⅲ.回归模型含有不为零的截距项Ⅳ.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量 A、Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ.ⅣB、Ⅰ.Ⅱ.ⅢC、Ⅱ.Ⅲ.ⅣD、Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ

DW检验的假设条件有( )。
Ⅰ.回归模型不含有滞后自变引作为解释变量
Ⅱ.随机扰动项满足
Ⅲ.回归模型含有不为零的截距项
Ⅳ.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量

A、Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
B、Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ
C、Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
D、Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ


参考解析

解析:DW检验的假设条件为解释变量x为非随机变量,随机扰动项满足一阶自回归形式

并且回归模型中不应含有滞后因变量作为解释变量,且回归模型含有不为零的截距项。

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用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A.0DW1B.-1DW1C.-2DW2D.0DW4

以下哪种检验方法的零假设为:B1=B2=⋯=Bm=0? A.r检验B.F检验C.t检验D.DW检验

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异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A.Ⅱ.Ⅲ.ⅣB.Ⅰ.Ⅲ.ⅣC.Ⅰ.Ⅱ.ⅣD.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

DW检验的假设条件有( )。Ⅰ.回归模型不含有滞后自变量作为解释变量Ⅱ.随机扰动项,满足μi=ρμi-1+viⅢ.方回归模型含有不为零的截距项Ⅳ.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量A:Ⅱ.Ⅲ.ⅣB:Ⅰ.Ⅱ.ⅣC:Ⅰ.Ⅱ.ⅢD:Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ

异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A:Ⅱ.Ⅲ.ⅣB:Ⅰ.Ⅲ.ⅣC:Ⅰ.Ⅱ.ⅣD:Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

DW检验的假设条件有( )。Ⅰ.回归模型不含有滞后自变量作为解释变量Ⅱ.随机扰动项,满足μi=ρμi-1+viⅢ.方回归模型含有不为零的截距项Ⅳ.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量A.Ⅱ.Ⅲ.ⅣB.Ⅰ.Ⅱ.ⅣC.Ⅰ.Ⅱ.ⅢD.Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ

时间序列分析中常用的检验有( )。A.协整检验B.单位根检验C.DW检验D.格兰杰因果检验

杜宾一瓦森DW检验法是常用的序列相关性检验方法,以下关于DW检验说法正确的是( )。A.DW值在2附近左右时为正相关B.DW值接近0时为负相关C.DW值的取值范围为[-4,4]D.DW值接近4时为负相关

DW检验的假设条件有( )。A.回归模型不含有滞后自变量作为解释变量B.C.回归模型含有不为零的截距项D.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量

时间序列分析中常用的检验有( )。A、协整检验B、单位根检验C、DW检验D、格兰杰因果检验

DW检验的原假设为()A、DW=0B、ρ=0C、DW=1D、ρ=1

用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A、0≤DW≤1B、-1≤DW≤1C、-2≤DW≤2D、0≤DW≤4

DW检验的零假设是(ρ为随机误差项的一阶相关系数)()。A、DW=0B、ρ=0C、DW=1D、ρ=1

简要说明DW检验应用的限制条件和局限性。

对自回归模型进行自相关检验时,下列说法正确的有()。A、使用DW检验有效B、使用DW检验时,DW值往往趋近于0C、使用DW检验时,DW值往往趋近于2D、使用DW检验时,DW值往往趋近于4

DW检验法

DW检验

以dl表示统计量DW的下限分布,du表示统计量DW的上限分布,则DW检验的不确定区域是()。A、du≤DW≤4-duB、4-du≤DW≤4-dlC、dl≤DW≤duD、4-dl≤DW≤4E、0≤DW≤dl

参数假设检验的基本原理是()。A、运用假设条件下绝对不应发生事件推断所检验参数B、运用假设条件下参数应取值范围推断所检验参数C、运用假设条件下所检验参数的概率取值推断所检验参数D、运用“小概率事件”原理推断所检验参数

自相关检验方法有()。A、DW检验法B、ADF检验法C、LM检验法D、回归检验法

单选题DW检验的假设条件有()。 I 回归模型不含有滞后自变量引作为解释变量 Ⅱ随机扰动项满足μi=ρμi-1+νi Ⅲ回归模型含有不为零的截距项 IV 回归模型不含有滞后因变量作为解释变量AI、II、III、IVBI、II、IIICII、III、IVDI、II、IV

单选题DW检验的原假设为()ADW=0Bρ=0CDW=1Dρ=1

单选题用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A0≤DW≤1B-1≤DW≤1C-2≤DW≤2D0≤DW≤4

单选题DW检验的假设条件有(  )。Ⅰ.回归模型不含有滞后自变量作为解释变量Ⅱ.随机扰动项满足mi=rmi-1+niⅢ.回归模型含有不为零的截距项Ⅳ.回归模型不含有滞后因变量作为解释变量AⅡ、ⅣBⅢ、ⅣCⅠ、Ⅱ、ⅢDⅡ、Ⅲ、Ⅳ

单选题自相关检验方法有(  )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.ADF检验法Ⅲ.LM检验法Ⅳ.回归检验法AⅠ、Ⅱ、ⅢBⅠ、Ⅱ、ⅣCⅠ、Ⅲ、ⅣDⅡ、Ⅲ、Ⅳ

单选题异方差的检验方法有(  )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法AⅠ、Ⅱ、ⅢBⅠ、Ⅱ、ⅣCⅠ、Ⅲ、ⅣDⅡ、Ⅲ、Ⅳ