若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()

  • A、用刀口尺以光隙法检定
  • B、用平晶以技术光波干涉法检定
  • C、用刀口尺以量块比较法检定

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不论哪种量具,凡有平工作面的,均有平面度要求,那么平面度是指包容()且距离为最小的()之间的距离。

检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制()。 A、视差B、读数误差C、刻度误差

高度游标卡尺量爪测量面的平面度用()刀口直尺检定,底座工作面用()刀口直尺以光隙法检定。

长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

不论哪种量具,凡有平工作面的,均有颊度要求,那么平面度是指包容()且距离为最小的()之间的距离。

某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()A、0.01mmB、0.02umC、0.03um

试验室所用计量仪器及影响测试结果准确度的各种仪表、量具都必须进行周期检定。检定形式有两种,即()和()。

用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度

检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

用刀口尺检定游标卡尺工作面的平面度时,在一对角线位上出现两边有1μm间隙量,而在另一对角线方位上出现中间有2μm的间隙。试求该平面的平面度。

在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()A、0.03umB、0.05umC、0.10um

无论哪种量具,凡有平工作面的,均有平面度要求,那么平面度是指包容()且距离为最小的两()之间的距离。

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

同标称值检定0.01级标准电阻,标准量具准确度等级指数为()×10-6。A、10;    B、20;C、5;   D、50

单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

问答题试验室所用计量仪器及影响测试结果准确度的各种仪表、量具都必须进行周期检定。检定形式分为哪有两种?

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单选题某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()A0.01mmB0.02umC0.03um

判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A对B错

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