观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A、底片高度曝光B、X射线强度太高C、工件底部未加工D、背面散射
观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的。
未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度。
射线照相上产生亮的月牙形痕迹的原因很可能是（）A、曝光后使胶片卷曲B、曝光前使胶片卷曲C、片处理时温度变化急剧D、定影液过热或用乏
显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受折D、曝光后胶片受折
底片上出现黑色斑点是由于（）而产生的A、曝光前胶片之间的隔纸没去掉B、使用表面有锡包复层的铅增感屏C、X射线衍射D、以上都是
底片非化学性灰雾产生的原因是什么？（）A、胶片本身质量问题、胶片储藏时间过久或超过有效期较长B、暗室红灯过亮，显影液浓度过高、显影液温度过高C、胶片在透照前已曝光，曝光过度，受散射线影响D、以上都是
射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。
显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受重物压迫D、曝光后胶片受重物压迫
用15MeV回旋回加速器对钢焊缝进行射线照相，显影后底片上布满了斑点，产生斑点的原因可能是（）A、曝光时间不正确；B、胶片与试件未贴紧；C、曝光时使用铅箔增感屏不当；D、显影时间过长。
显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前拿胶片不当D、曝光后拿胶片不当
射线底片上产生数枝形或圆形静电感光痕迹的原因是：（）A、装入暗盒时弯曲B、增感屏上嵌入外来材料C、铅屏划伤D、取胶片方法不当
曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
使用铅增感屏，由于什么原因增加了底片密度 （）。A、被激发的荧光屏发出可见光，有助于胶片的曝光B、吸收散射线C、防止了背后散射线，不使底片产生灰雾D、铅箔在X射线或γ射线激发下发射出电子
射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。
射线照片上产生黑的树枝状痕迹的原因可能是（）。A、铅箔屏划伤B、胶片受到弯折C、取片方法不对
单选题观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A底片高度曝光BX射线强度太高C工件底部未加工D背面散射
单选题显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前胶片受折D曝光后胶片受折
单选题用15MeV回旋回加速器对钢焊缝进行射线照相，显影后底片上布满了斑点，产生斑点的原因可能是（）A曝光时间不正确；B胶片与试件未贴紧；C曝光时使用铅箔增感屏不当；D显影时间过长。
单选题射线底片上产生数枝形或圆形静电感光痕迹的原因是：（）A装入暗盒时弯曲B增感屏上嵌入外来材料C铅屏划伤D取胶片方法不当
单选题射线照片上产生黑的树枝状痕迹的原因可能是（）。A铅箔屏划伤B胶片受到弯折C取片方法不对
单选题底片上出现黑色斑点是由于（）而产生的A曝光前胶片之间的隔纸没去掉B使用表面有锡包复层的铅增感屏CX射线衍射D以上都是
判断题射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。A对B错
单选题射线照相上产生亮的月牙形痕迹的原因很可能是（）A曝光后使胶片卷曲B曝光前使胶片卷曲C片处理时温度变化急剧D定影液过热或用乏
单选题显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前拿胶片不当D曝光后拿胶片不当
单选题显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前胶片受重物压迫D曝光后胶片受重物压迫
单选题底片非化学性灰雾产生的原因是什么？（）A胶片本身质量问题、胶片储藏时间过久或超过有效期较长B暗室红灯过亮，显影液浓度过高、显影液温度过高C胶片在透照前已曝光，曝光过度，受散射线影响D以上都是