观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A、底片高度曝光B、X射线强度太高C、工件底部未加工D、背面散射
观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的。
未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度。
射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲
射线照相上产生亮的月牙形痕迹的原因很可能是（）A、曝光后使胶片卷曲B、曝光前使胶片卷曲C、片处理时温度变化急剧D、定影液过热或用乏
显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受折D、曝光后胶片受折
胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。
射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。
显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受重物压迫D、曝光后胶片受重物压迫
用15MeV回旋回加速器对钢焊缝进行射线照相，显影后底片上布满了斑点，产生斑点的原因可能是（）A、曝光时间不正确；B、胶片与试件未贴紧；C、曝光时使用铅箔增感屏不当；D、显影时间过长。
显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前拿胶片不当D、曝光后拿胶片不当
射线底片上产生数枝形或圆形静电感光痕迹的原因是：（）A、装入暗盒时弯曲B、增感屏上嵌入外来材料C、铅屏划伤D、取胶片方法不当
曝光过程中，与X射线胶片紧密接触的铅增感屏可提高底片黑度，其原因是（）。A、铅增感屏会产生可见光和荧光B、铅屏可吸收散射线C、防止背散射造成胶片灰雾D、铅屏受X射线和γ射线照射会发生二次电子
胶片特性曲线的横坐标表示（）。A、底片黑度B、曝光量C、曝光量的对数D、底片黑度的对数
射线照片上产生黑的树枝状痕迹的原因可能是（）。A、铅箔屏划伤B、胶片受到弯折C、取片方法不对
单选题显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前胶片受折D曝光后胶片受折
单选题观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A底片高度曝光BX射线强度太高C工件底部未加工D背面散射
判断题射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。A对B错
判断题射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲A对B错
单选题用15MeV回旋回加速器对钢焊缝进行射线照相，显影后底片上布满了斑点，产生斑点的原因可能是（）A曝光时间不正确；B胶片与试件未贴紧；C曝光时使用铅箔增感屏不当；D显影时间过长。
单选题射线底片上产生数枝形或圆形静电感光痕迹的原因是：（）A装入暗盒时弯曲B增感屏上嵌入外来材料C铅屏划伤D取胶片方法不当
判断题射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。A对B错
单选题射线照相上产生亮的月牙形痕迹的原因很可能是（）A曝光后使胶片卷曲B曝光前使胶片卷曲C片处理时温度变化急剧D定影液过热或用乏
单选题显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前拿胶片不当D曝光后拿胶片不当
单选题显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A静电感光B铅增感屏划伤C曝光前胶片受重物压迫D曝光后胶片受重物压迫
单选题曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）AX射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量BX射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量CX射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度DX射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
单选题射线照片上产生黑的树枝状痕迹的原因可能是（）。A铅箔屏划伤B胶片受到弯折C取片方法不对