方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高（）A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B、裂纹表面不光滑对回波强度影响越大C、杂波太多D、AB都对
直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。A、底波被较大的面积性缺陷反射B、底波被较小的单个球状缺陷反射C、底波的能量被转换为电能而吸收D、以上都可能
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
钢板探伤中可根据（）判断缺陷是否存在。A、参考回波减弱B、缺陷回波C、底波D、以上都对
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
中等厚度钢板直探头多次反射法探伤，缺陷位于（）时，缺陷回波之间会发生迭加效应。
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
当缺陷波与底波共存时，可认为是密集缺陷或面积较大的其它缺陷。
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
填空题中等厚度钢板直探头多次反射法探伤，缺陷位于（）时，缺陷回波之间会发生迭加效应。
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C耦合太好D存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
多选题在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A缺陷回波B底波或参考回波的减弱C底波或参考回波的消失D接收探头接收到的能量的减弱
多选题在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有（）A缺陷回波B底波或参考回波的减弱或消失C接收探头接收到的能量的减弱D接收探头接收到的能量的增强
填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都是
单选题在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）A缺陷回波B底波或参考回波的减弱或消失C接收探头接收到的能量的减弱DAB都对
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
单选题在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）A大B小C无影响D不一定
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面