化工过程测量中,()测量易引入纯滞后。A、流量、压力B、压力、物位C、物位、温度D、温度、成分

化工过程测量中,()测量易引入纯滞后。

  • A、流量、压力
  • B、压力、物位
  • C、物位、温度
  • D、温度、成分

相关考题:

滞后产生的原因包括()。 A、测量元件安装位置不当B、测量变送单位本身存在滞后C、测量信号的传递滞后D、以上都不对

测量变送环节的纯滞后时间常数越小,对控制性能越有利。() 此题为判断题(对,错)。

双容对象特性与单容对象特性相比增加了()。A、纯滞后B、传送滞后C、测量滞后D、容量滞后

化工测量过程中测量参数()测量易引起纯滞后。A、温度、成分B、压力、成分C、流量、温度D、液位、流量

一个系统的对象有容量滞后,另一个系统由于测量点位置造成纯滞后,如分别采用微分作用克服滞后,效果如何?

测量滞后一般由测量元件特性引起,克服测量滞后的办法是在调节规律中增加积分环节。

()存在纯滞后,通常不影响控制质量。A、调节通道B、测量元件C、变送器D、干扰通道

对调节系统的几种说法,哪一项是错误的()。A、对纯滞后大的控制对象,引入微分作用,不能克服其滞后的影响。B、当调节过程不稳定时,可增大积分时间或加大比例度使其稳定。C、当控制器的测量值与给定值相等时,即偏差为零时,控制器的输出为零。D、比例调节过程的余差与调节器的比例度成正比。

测量信号滞后产生的原因包括()。A、测量元件安装位置不当B、测量变送单元本身存在滞后C、测量信号的传递滞后D、以上都不对

化工测量过程中测量参数()的测量易引起纯滞后。A、温度、成分B、压力、成分C、流量、温度D、液位、流量

微分作用不能克服对象的()。A、惯性滞后B、容量滞后C、测量滞后D、纯滞后

为减小由于测量元件引起的纯滞后,可以选取惰性性小的测量元件,减小时间常数。选择快速的测量元件,保证测量元件的时间常数小于()控制通道的时间常数,减小动态误差。A、1/4B、1/6C、1/8D、1/10

仪表信号传递所需的时间是()时间。A、容量滞后B、纯滞后C、惯性滞后D、测量滞后

化工生产过程中,仪表测量的五大参数为()、()、()、()、()。

调节对象的纯滞后过大,可以引入微分作用加以克服。

化工装置为了保证仪表测量精度,减少滞后,管路应尽量(),但对(),为了能使其(),要求测量管路有一定的长度;对脉动较大的介质,也要求测量管路有一定的长度,以使波动平稳,但最长不应大于()。

串级调节系统可以用于改善()时间较大的对象,有超前作用。A、容量滞后B、测量滞后C、惯性滞后D、纯滞后

在消除和减小系统误差时,可以在测量过程中采取一定措施,避免()引入测量结果。A、系统误差B、随机误差C、环境误差D、测量误差

化工过程中测量参数()、()测量易引入纯滞后。

()存在纯滞后,但不会影响控制品质指标。 A、 控制通道  B、 测量元件  C、 变送器  D、 干扰通道

在过程控制中克服测量滞后方法有:()、()和正确的使用微分单元。

当()存在纯滞后,通常不影响控制质量。A、调节通道B、测量元件C、变送器D、干扰通道

频率测量时,引入误差的因素有()。A、测量方法引起的误差B、被测信号的调制引起的误差C、测量过程中基准频率引起的误差D、测量包括读数精度的技术特性引起的误差

测量滞后一般由()引起,克服测量滞后的办法是在调节规律中()。

单选题()存在纯滞后,但不会影响控制品质指标。A 控制通道  B 测量元件  C 变送器  D 干扰通道

单选题当()存在纯滞后,通常不影响控制质量。A调节通道B测量元件C变送器D干扰通道

填空题在过程控制中克服测量滞后方法有:()、()和正确的使用微分单元。