国产斜探头多以K值标称,它等于斜探头在钢中的()。
斜探头K值的测定应在（）近场区以外进行。A、1倍B、2倍C、3倍D、10倍
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
国产斜探头多以K值标称，它等于斜探头在（）中折射角的（）
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。
斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。 A、 增大B、 不变C、 减小D、 都有可能
测定探头的K值或βs应在近场区内进行，因为近场内声压最高点在声束轴线上，测试误差小。
探头的选择包括探头的型式、频率 、晶片尺寸和斜探头K值等
JB1152-81标准规定，斜探头K值的测定应在声场的（）。A、1.67N以外进行B、N以外进行C、2N以外进行D、3N以外进行
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
斜探头K值的测定应在声场的（）。A、1.67N以外进行B、N以外进行C、2N以外进行D、3N以外进行
某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
单选题斜探头K值的测定应在（）近场区以外进行。A1倍B2倍C3倍D10倍
单选题斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。A 增大B 不变C 减小D 都有可能
判断题在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。A对B错
填空题国产斜探头多以K值标称，它等于斜探头在钢中的（）
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角