在吸收剂量的绝对制度中，哪一物理量考虑了电离室材料（包括平衡帽）对射线的吸收和散射（）A、KmB、KattC、NxD、NgE、Nd
在吸收剂量的绝对制度中，哪一物理量考虑了电离室材料（包括平衡帽）对射线的吸收和散射（）
- A、Km
- B、Katt
- C、Nx
- D、Ng
- E、Nd
相关考题：
关于剂量的测量方法说法错误的是A、吸收剂量最直接最基本的方法是量热法B、常用的热释光剂量片为LiFC、半导体探测器又称为固体电离室D、自由空气电离室可以作为现场使用的剂量仪E、自由空气电离室属于直接绝对测量的标准仪器
关于指形电离室的说法，正确的是（）A、指形电离室的灵敏体积通常为0.1~1.5cm3 B、指形电离室由静电极、测量极和保护极组成 C、指形电离室一般不用于测量表面剂量 D、指形电离室通常用来校准中高能X线以及4MeV以上的电子线 E、指形电离室带有标准厚度的平衡帽，其目的是为了增加灵敏体积内的电子数目
根据Bragg-Gray理论，用电离室测量介质中某点的吸收剂量，该点的吸收剂量可以通过电离室空气的平均吸收剂量乘以一个比例系数得到，这个比例系数为水和空气的（）A、质量阻止本领比B、线性组织本领比C、线性散射本领比D、质能吸收系数比E、质量散射本领比
目前我国使用电离室在临床测量吸收剂量，应用的是基于（）A、空气中照射量的校准系数规程B、空气中比释动能的校准系数规程C、空气中吸收剂量的校准系数规程D、水中比释动能的校准系数规程E、水肿吸收剂量的校准系数规程
当使用绝缘体固体模体测量电子束的吸收剂量时，耗尽能量的电子被阻止在介质中，从而改变和影响了电离室在继后的照射中所收集的实际的电离电荷，这种现象称为（）A、光电效应B、康普顿效应C、电子对效应D、电荷积累效应E、电离室干效应
电离室经校准后的空气比释动能校准因子Nk=9.08×lO3Gy/div，次级电子在空气中以韧致辐射形式损失的能量份额为0.003，电子的平均电离能为33.97J/C，该电离室材料空气不完全等效的校正因子为0.991，设电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子为0.990，则该用户电离室的空气吸收剂量校准因子是（）A、0.888×l0-2Gy/divB、0.891×l0-2Gy/divC、0.908×l0-2Gy/divD、2.291×l0-2Gy/divE、2.672×l0-2Gy/div
关于电离室空气吸收剂量校准因子ND的描述，错误的是（）A、依赖于电离室的几何形状B、依赖于电离室的制作材料C、与电离室的比释动能校准因子NK有关D、与照射量校准因子NX有关E、与吸收剂量校准因子Cλ，CE有关
按照IAEA测量规程1997年修订版的建议，关于用电离室在水模体中测量加速器8MVX射线吸收剂量时的参考条件，不正确的是（）A、源皮距采用常规治疗距离B、照射野为10cm×l0cmC、参考深度为水下10cmD、有效测量点位于电离室前方距离电离室几何中心0.6倍电离室半径处E、每次测量时，机器跳数预设为100MU
使用指型电离室剂量仪测量吸收剂量时，应主要注意的问题为（）A、电离室的方向性、杆效应及温度气压的影响B、电离室的工作电压、杆效应及温度气压的影响C、电离室的工作电压、方向性、杆效应及温度气压的影响D、电离室的工作电压、方向性、杆效应及温度气压的影响E、电离室的工作电压、方向性、一致性及温度气压的影响
单选题对于高能X射线的吸收剂量测量,下列观点哪个不正确（ ）A不能把电离室看作照射仪表去求吸收剂量B把空腔电离离室看作一个布拉格-格雷空穴C把介质中的吸收剂量与介质内较小的充气空腔中单位体积的电离相联系D把空腔电离室当作布拉格-格雷空腔测量吸收剂量时,不需要电子平衡条件E电离室不能当做电子探测器
单选题根据Bragg-Gray理论，用电离室测量介质中某点的吸收剂量，该点的吸收剂量可以通过电离室空气的平均吸收剂量乘以一个比例系数得到，这个比例系数为水和空气的（）A质量阻止本领比B线性组织本领比C线性散射本领比D质能吸收系数比E质量散射本领比
单选题电离室经校准后的空气比释动能校准因子Nk=9.08×lO3Gy/div，次级电子在空气中以韧致辐射形式损失的能量份额为0.003，电子的平均电离能为33.97J/C，该电离室材料空气不完全等效的校正因子为0.991，设电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子为0.990，则该用户电离室的空气吸收剂量校准因子是（）A0.888×l0-2Gy/divB0.891×l0-2Gy/divC0.908×l0-2Gy/divD2.291×l0-2Gy/divE2.672×l0-2Gy/div
单选题在吸收剂量的绝对刻度中，空气吸收剂量校准因子用如下哪一物理量表示（）AKmBKattCNxDNkEND