特征X射线是由原子的（）跃迁产生的。A、核能级B、内层电子能级C、外层电子能级
特征X射线是由原子的（）跃迁产生的。
- A、核能级
- B、内层电子能级
- C、外层电子能级
相关考题：
原子吸收光谱是()。 A、基态原子吸收特征辐射后跃迁到激发态所产生的B、基态原子吸收了特征辐射跃迁到激发态后又回到基态时所产生的C、分子的电子吸收特征辐射后跃迁到激发态所产生的D、分子的振动、转动能级跃迁时对光的选择吸收产生的
有关特征X线的解释，错误的是( )。A.特征X线是高速电子与靶物质原子的轨道电子相互作用的结果B.特征X线产生的X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长，由跃迁的电子能量差所决定D.靶物质原子序数较高时，特征X线的能量就大E.管电压70kVp以下，不产生K系特征X线
高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。有关特征X线的解释，错误的是（）A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质取决于高速电子的能量C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大E、70kVp以下钨不产生K系特征X线
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
下面有关标识X射线的解释，正确的是（）。A、标识X射线的产生与高速电子的能量无关。B、标识X射线是高速电子与靶物质轨道电子相互作用的结果。C、滤过使标识X射线变硬。D、标识X射线的波长由跃迁电子的能级差决定。E、靶物质原子序数越高，标识X射线的能量就越大。
单选题原子吸收光谱是（）A分子的振动、转动能级跃迁时对光的选择吸收产生的B基态原子吸收了特征辐射跃迁到激发态后又回到基态时所产生的C分子的电子吸收特征辐射后跃迁到激发态所产生的D基态原子吸收特征辐射后跃迁到激发态所产生的
单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法
多选题下面有关标识X射线的解释，正确的是（）。A标识X射线的产生与高速电子的能量无关。B标识X射线是高速电子与靶物质轨道电子相互作用的结果。C滤过使标识X射线变硬。D标识X射线的波长由跃迁电子的能级差决定。E靶物质原子序数越高，标识X射线的能量就越大。
判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错