采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是( )。A、细晶组织B、耦合剂不清洁C、表面粗糙D、粗晶组织
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。 （ ）此题为判断题(对，错)。
粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（ ）。A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz
超声波探伤时,探头频率的选择对于细晶粒材料常用2.5~5.0MHz的频率,对于粗晶粒材料常用0.5~2.5MHz的频率。() 此题为判断题(对，错)。
粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz
采用超声法对钢结构进行内部缺陷探伤时，如材料较厚时宜选用发射频率较高的探头。
在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是
下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力？（）A、用直径较小的探头进行检验B、用频率较低的纵波进行检验C、将接触法检验改为液浸法检验D、将纵波检验改为横波检验
若用直探头反射法探测厚铸件，为降低粗晶草状回波干扰，可采取（）A、采用低频直探头，分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂
用频率较高的横波进行探伤可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力。
下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中穿透能力（）。A、用直径较小的探头进行检验B、用频率较低的纵波进行检验C、将接触法检验改为液浸法检验D、将纵波检验改为横波检验
超声波探伤，为减少近场长度应选用（）的探头.A、低频率B、较小晶片C、低频率和较小晶片D、较大晶片
在超声波探伤中，为减少近场长度应选用低频率或晶片直径（）的探头。
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
超声波探伤，为减少近场长度应选用低频率或直径（）的探头。
粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（）。A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A、大直径高频率探头B、小直径高频探头C、大直径低频率探头D、以上A和B
超声波探伤，为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
单选题采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A细晶组织B耦合剂不清洁C表面粗糙D粗晶组织
判断题探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。A对B错
单选题在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B将接触法探伤改为液浸法探伤C采用小直径探头探伤D以上都是
单选题粗晶探伤通常选用的超声波频率为（）A2.5MHzB1.25MHzC5MHzD10MHz
单选题若用直探头反射法探测厚铸件，为降低粗晶草状回波干扰，可采取（）A采用低频直探头，分层调整探伤灵敏度B转换为横波探伤C用水做耦合剂D不加耦合剂
单选题下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A大直径高频率探头B小直径高频探头C大直径低频率探头D以上A和B