电桥的灵敏度只取决于所用检流计的灵敏度，而与其它因素无关。A对B错
C型灵敏度试片与A型灵敏度试片使用方法相同，只是C型灵敏度试片能用于狭小部位。
利用试块法校准检测灵敏度的优点是（）。A、 校准方法简单B、 适用对缺陷小于3N的锻件C、 可以克服检测面形状对灵敏度的影响D、 不必考虑材质差异
以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A、不考虑探伤面耦合差的补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不必使用试块D、以上都对
使用ASME孔洞型像质计#40，照射厚度2英寸之试件，评估底片时可见到一个孔洞（4T），请问其灵敏度为多少%？（请简要写出计算过程）
电桥的灵敏度只取决于所用检流计的灵敏度，而与其他因素无关。
下列说法正确的是（）A、标准试块就是对比试块B、对比试块的材质与试件的材质必须相同或相似C、超声探伤时根本不需要用标准试块或对比试块调试仪器D、用试块调试仪器时，灵敏度尽量高，发现缺陷就报废，以保证产品质量
试件表面涡流密度越大，其检出灵敏度（）。离试件表面越深，则检出灵敏度就（）。
影响渗透探伤灵敏度的主要因素是（）。A、试件厚度B、试件表面C、试件材质D、渗透液
探伤和探伤灵敏度调节应使用（）的耦合剂.A、同种B、声阻抗相同C、声速相同
采用试块法调节探伤灵敏度时，应考虑进行（）补偿和材质衰减补偿。
超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下，才能进行材质差值的测定。
利用试块法校正探伤灵敏度的优点是（）A、校正方法简单B、对大于3N和小于3N的锻件都适用C、可以克报探伤面形状对灵敏度的影响D、不必考虑材质差异
以工件底面作为灵敏度校正基准，可以（）A、不考虑探测面的耦合差补偿B、不考虑材质衰减差补偿C、不必使用校正试块D、以上都是
使用对比试块调整探伤灵敏度时，如何确定表面或材质差异的补偿值？
电桥的灵敏度只取决于检流计的灵敏度，而与其他因素无关。
判断题电桥的灵敏度只取决于所用检流计的灵敏度，而与其它因素无关。A对B错
单选题利用试块法校正探伤灵敏度的优点是：（）A校正方法简单B对大于3N和小于3N的锻件都适用C可以克报探伤面形状对灵敏度的影响D不必考虑材质差异
判断题使用灵敏度试片时，可以获得和试件相等的灵敏度，而与其材质是否相同无关。A对B错
单选题以工件底面作为灵敏度校正基准，可以：（）A不考虑探测面的耦合差补偿B不考虑材质衰减差补偿C不必使用校正试块D以上都是
单选题以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A不考虑探伤面耦合差的补偿B不考虑材质衰减的补偿C不必使用试块D以上都对
单选题下列说法正确的是（）A标准试块就是对比试块B对比试块的材质与试件的材质必须相同或相似C超声探伤时根本不需要用标准试块或对比试块调试仪器D用试块调试仪器时，灵敏度尽量高，发现缺陷就报废，以保证产品质量
填空题采用试块法调节探伤灵敏度时，应考虑进行（）补偿和材质衰减补偿。
单选题影响渗透探伤灵敏度的主要因素是（）。A试件厚度B试件表面C试件材质D渗透液
问答题使用ASME孔洞型像质计#40，照射厚度2英寸之试件，评估底片时可见到一个孔洞（4T），请问其灵敏度为多少%？（请简要写出计算过程）
填空题试件表面涡流密度越大，其检出灵敏度（）。离试件表面越深，则检出灵敏度就（）。