检测探头探到试件上的缺陷时,会使测量绕组发生变化的()。A、只有电阻B、只有电抗C、同时有电阻和电抗D、先电阻后电抗

检测探头探到试件上的缺陷时,会使测量绕组发生变化的()。

  • A、只有电阻
  • B、只有电抗
  • C、同时有电阻和电抗
  • D、先电阻后电抗

相关考题:

按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时,探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时,以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1

GTC-1000系统探轮中70°探头主要检测轨头部位()缺陷。

超声波探头发射脉冲波到被检试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法,称为()。

检测速度快,探头与试件可不直接接触,无需耦合剂。主要缺点是只适用于导体,对形状复杂试件难作检查,只能检查薄试件或厚试件的表面、近表面缺陷,检测方法应为()。A.涡流检测B.磁粉检测C.液体渗透检测D.超声波检测

测量绕组主要用来检测试件中变化的()。A、激励磁场B、涡流磁场C、磁畴磁场D、以上三者都是

下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

若桥式探头的各参数固定不动,其探到缺陷时,引起桥路有输出的原因是()。A、桥臂系数KB、桥路臂比AC、桥路电源ED、探头绕组阻抗相对变化δZ3

盲区即由探头到能够检测出缺陷位置的最小()。A、距离B、长度C、宽度D、深度

横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小

渗透检测时,试件温度应接近室温,如果试件温度过低,会使()。A、渗透液变稠B、渗透液很快蒸发C、渗透液颜色降低D、渗透液粘到试件表面上

穿过式探头中测量绕组上的感应电流的大小()。A、与测量绕组直径无关B、与测量绕组直径成正比C、与测量绕组直径平方成正比D、与测量绕组直径立方成正比

如果将试件加热到高温进行渗透检测,会使()。A、渗透液变稠B、渗透液急骤蒸发C、渗透液颜色强度降低D、渗透液更好地显现缺陷

超声检测铝及铝合金板材与钢板超声检测比较,下列叙述正确的是:()A、铝及铝合金板材超声检测方法与钢板的检测方法基本相同,灵敏度调节方法也基本相同B、缺陷的判别方法与钢板缺陷判别方法基本相同C、测量缺陷指示长度时,均以探头中心移动距离为缺陷指示长度,探头中心点为缺陷的边界点D、单个缺陷指示长度不记的规定和相邻多个缺陷指示长度累计相加的规定相同

()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷

簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直

当采用斜探头来接触试件表面时,在对铁素体焊缝进行纵向缺陷检测时,折射角应选择在()A、40°~65°B、45°~70°C、40°~70°D、40°~75°

横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化

单选题建筑幕墙性能检测中,发现由于试件的安装缺陷使某项性能未达到规定要求,最合理的处理是( )。A修改设计、修补试件缺陷后重新检测B改进试件安装工艺、修补缺陷后重新检测C修改设计,重新制作试件后重新检测D更换材料,重新制作试件后重新检测

单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()A探头磨损会使入射点发生变化B探头磨损可能导致探头K值的增大C探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D探头磨损可能导致探头K值的减小

单选题如果将试件加热到高温进行渗透检测,会使()。A渗透液变稠B渗透液急骤蒸发C渗透液颜色强度降低D渗透液更好地显现缺陷

单选题穿过式探头中测量绕组上的感应电流的大小()。A与测量绕组直径无关B与测量绕组直径成正比C与测量绕组直径平方成正比D与测量绕组直径立方成正比

单选题若桥式探头的各参数固定不动,其探到缺陷时,引起桥路有输出的原因是()。A桥臂系数KB桥路臂比AC桥路电源ED探头绕组阻抗相对变化δZ3

单选题横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。下列说法错误的是()。A探头磨损会使入射点发生变化B 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D 探头磨损可能导致扫描速度的变化

单选题测量绕组主要用来检测试件中变化的()。A激励磁场B涡流磁场C磁畴磁场D以上三者都是

单选题检测探头探到试件上的缺陷时,会使测量绕组发生变化的()。A只有电阻B只有电抗C同时有电阻和电抗D先电阻后电抗

单选题()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A耦合剂B探头线C仪器D缺陷

单选题下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷