对于闭环的进给伺服系统。可采用()作为检测装置。A、增量式编码B、绝对式编码C、圆光栅D、长光栅

对于闭环的进给伺服系统。可采用()作为检测装置。

  • A、增量式编码
  • B、绝对式编码
  • C、圆光栅
  • D、长光栅

相关考题:

数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。 A、全闭环B、半闭环C、开环

闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于()A、位置控制器;B、检测单元;C、伺服驱动器;D、控制对象。

数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环

半闭环进给伺服系统数控机床,其定位精度主要取决于()A、伺服单元B、检测装置的精度C、机床传动机构的精度D、控制系统E、数控装置

半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。

闭环进给伺服系统与开环进给伺服系统主要区别在于()。A、是否安装位置检测装置B、是否采用交流伺服电机C、是否具备刀具补偿功能D、是否采用不同的数控系统

闭环进给伺服系统

对于半闭环的进给伺服系统,可采用()、()、()作为检测装置。

带有位置检测装置的进给系统一定是半闭环进给伺服系统。

()的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统

闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于()。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象

闭环进给伺服系统比开环进给伺服系统比多一个()。

闭环进给伺服系统的检测元件是角位移检测器。

半闭环进给伺服系统的检测元件是()。

开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。

闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于()。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象

对于闭环的进给伺服系统,可采用作为检测装置( )。A、增量式编码器B、绝对式编码器C、旋转式感应同步器D、长光栅

数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链

()进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要

闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于()。A、数控单元B、检测单元C、伺服单元D、控制对象

闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。

判断题闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。A对B错

单选题()进给伺服系统不需要测量装置。A开环B半闭环C全闭环D以上都需要

判断题半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。A对B错

单选题数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。A全闭环B半闭环C开环

单选题数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。A全闭环B半闭环C开环D以上皆可

单选题闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于()。A位置控制器B控制对象C伺服单元D检测单元