数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。 A、全闭环B、半闭环C、开环
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）A、位置控制器；B、检测单元；C、伺服驱动器；D、控制对象。
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
半闭环进给伺服系统数控机床，其定位精度主要取决于（）A、伺服单元B、检测装置的精度C、机床传动机构的精度D、控制系统E、数控装置
对于闭环的进给伺服系统。可采用（）作为检测装置。A、增量式编码B、绝对式编码C、圆光栅D、长光栅
带有位置检测装置的进给系统一定是半闭环进给伺服系统。
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于（）。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象
对于闭环的进给伺服系统，可采用作为检测装置（ ）。A、增量式编码器B、绝对式编码器C、旋转式感应同步器D、长光栅
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中
（）进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、数控单元B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
判断题闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。A对B错
单选题（）进给伺服系统不需要测量装置。A开环B半闭环C全闭环D以上都需要
判断题半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。A对B错
单选题闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A位置控制器B控制对象C伺服单元D检测单元
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A全闭环B半闭环C开环D传动链
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A全闭环B半闭环C开环D以上皆可
单选题在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A半闭环伺服系统中B开闭环伺服系统中C半闭环和全闭环伺服系统中D只用在全闭环伺服系统中
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A全闭环B半闭环C开环