波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的()表示。A、标准偏差B、相对标准偏差C、极差D、误差

波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的()表示。

  • A、标准偏差
  • B、相对标准偏差
  • C、极差
  • D、误差

相关考题:

波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和()元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散

X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以()表示。

以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器?()A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器

波长色散X射线荧光光谱仪正常工作是有三个部件需要冷却,其中最需要冷却的是()。

波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

色散型X射线荧光光谱仪分为()。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型

波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为()。A、2年B、1年C、6个月

波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

在能量色散X射线荧光光谱仪上,探测器接收到的是()光束。A、混合B、特征C、连续D、散射

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫()、()和()三种类型。

顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线,一般说来,原级X射线的波长比次级的长。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。

问答题试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。