对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。() 此题为判断题(对，错)。
微球形聚焦测井的径向探测深度为() A、5.0cmB、10cmC、15cmD、25cm
微球测井的探测深度受泥饼的影响()微侧向。 A、大于B、小于C、等于D、约等于
微电极测井仪的测量结果受泥饼影响较微侧向()。 A、大B、小C、相同D、无关
微电极测井曲线的探测深度浅,通过对泥饼影响的校正,可以确定出冲洗带电阻率。() 此题为判断题(对，错)。
补偿密度测井使用两个探测器是为了补偿井壁泥饼和()的影响。 A、不规则井壁B、相邻地层C、泥浆电阻率D、泥浆相对密度大
岩性密度测井受()的影响较大。 A、井径B、地层的电阻率C、泥饼D、钻井液的导电性
对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。
密度测井仪设计的短源距的目的是克服（）对测量的影响。A、泥饼B、泥浆C、井径
邻近侧向受泥饼影响最小，微侧向受泥饼影响较大，而微球形聚焦介于两者之间。
在渗透性层段上，微梯度的测量结果受（）影响大，而微电位主要受（）的影响。A、泥饼，冲洗带B、冲洗带，泥饼C、泥饼，井筒钻井液D、冲洗带，原状地层
泥炮泥缸尾部积泥故障，是由于泥饼小或泥饼磨损严重出现较大缝隙所致。
打泥后，（）保不住，泥饼后退，应将泥饼顶到原位并联系处理。
铣刀的主偏角越小，其径向切削力越小，抗振性也越好，但切削深度也随之减小
在密度测井中，长源矩计数率受泥饼影响（），短源距受泥饼影响（）。
在下列三种测井方法中（）测井受泥饼影响最小。A、邻近侧向B、微侧向C、微球形聚焦
补偿密度测井是利用长短源距探测出的密度差值补偿泥饼影响的密度测井。
钻井液侵入剖面依次为（）。A、井筒、泥饼、冲洗带B、泥饼、冲洗带、原状地层C、泥饼、侵入带、原状地层D、泥饼、冲洗带、过渡带
对饼形锻件，采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法
为了减少井眼、套管、泥饼对测量的影响，补偿中子测井仪将两个He-3探测器安装在离中子源距离不同的位置上，用它们的两个计数率的比值来反映地层孔隙度的大小。
密度测井使用双源距是为了补偿下列哪种因素对测量结果的影响（）A、井径变化B、存在泥饼C、地层含CLD、伽马射线的吸收
邻近侧向的探测范围比微侧向（），受泥饼影响程度比微侧向（）。A、大B、小C、相近
微球形聚焦测井与微侧向测井均可用来探测（）带，但前者受泥饼影响（）于后者。
判断题对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。A对B错
单选题岩性密度测井受（）的影响较大。A井径B地层的电阻率C泥饼D钻井液的导电性