关于X射线"质"的描述错误的是A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越强E、X射线波长越长，X射线"质"越硬
关于X线质,叙述正确的是 A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越弱E、X射线波长越长，X射线质越硬
关于X射线“质”的叙述，错误的是A.即X射线的强度B.由X射线的波长决定C.由X射线的频率决定D.X射线波长越短，穿透力越强E.X射线波长越长，X射线“质”越硬
波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和（）元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散
连续X射线束是（）A、异种X射线束B、特征X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束
波长色散X射线荧光光谱仪正常工作是有三个部件需要冷却，其中最需要冷却的是（）。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
色散型X射线荧光光谱仪分为（）。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型
波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为（）。A、2年B、1年C、6个月
特征X射线束是（）A、具有特定能量与波长的X射线束B、能量与波长不定的X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。A、混合B、连续C、单色D、散射
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流
波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
X射线波长色散和能量色散是建立在（）和（）基础上的。
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射
波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是：（）A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X，射线波长秀短，在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应
单选题特征X射线束是（）A具有特定能量与波长的X射线束B能量与波长不定的X射线束C单一波长的X射线束D含有多种波长的X射线束
单选题关于X射线"质"的描述错误的是（）A即X射线的强度B由X射线的波长决定C由X射线的频率决定DX射线波长越短，穿透力越强EX射线波长越长，X射线"质"越硬