在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（）A、大B、小C、相同D、以上都可以

在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（）

  • A、大
  • B、小
  • C、相同
  • D、以上都可以

相关考题：

在进行钢材焊缝内部缺陷无损探伤时，主要采用（ ）。A.超声探伤、磁粉探伤B.超声探伤、射线探伤C.超声探伤、渗透探伤D.磁粉探伤、渗透探伤
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在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数（）A、大B、小C、相同D、以上都可以
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为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（）A、小K值探头B、大K值探头C、软保护膜探头D、高频探头
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在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数（）A、大B、小C、相同D、以上都可能
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探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确（）A、缺陷实际径向深度总是小于显示值B、显示的水平距离总是大于实际弧长C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D、以上都正确
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在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数（）A、大B、小C、相同D、以上都可以
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表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
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一般探伤时不使用深度补偿是因为它会：（）A、影响缺陷的精确定位B、影响AVG曲线或当量定量法的使用C、导致小缺陷漏检D、以上都不对
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筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数（）A、大B、小C、相同D、以上都可以
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表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
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超声波探伤，为获得稳定的耦合状态，在曲面探伤时探头上可加用（）。
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在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
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在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数（）A、大B、小C、相同D、以上都可以
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深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。
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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
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单选题探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确（）A缺陷实际径向深度总是小于显示值B显示的水平距离总是大于实际弧长C显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D以上都正确
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填空题当管子的壁厚与外径之比大于（）时，就无法使用纯横波进行周向探伤，一般推荐使用的探伤方法是：利用折射透入管壁的（）波射向（）壁，再利用该壁反射超声波时产生的（）波射向（）壁，从而实现检查管子内、外壁缺陷的目的。
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填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
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单选题在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数（）A大B小C相同D以上都可以
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单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数（）A大B小C相同D以上都可能
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单选题在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（）A大B小C相同D以上都可以
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单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：（）A大B小C相同D以上都可以
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单选题筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数（）A大B小C相同D以上都可以
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单选题一般探伤时不使用深度补偿是因为它会：（）A影响缺陷的精确定位B影响AVG曲线或当量定量法的使用C导致小缺陷漏检D以上都不对
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填空题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
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单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：（）A大B小C相同D以上都可以
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单选题表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A缺陷深度B缺陷至探头前沿距离C缺陷声程D以上都可以
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