在筒身内壁作曲面周向探伤时,所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数()A、大B、小C、相同D、以上都可以

在筒身内壁作曲面周向探伤时,所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数()

  • A、大
  • B、小
  • C、相同
  • D、以上都可以

相关考题:

在进行钢材焊缝内部缺陷无损探伤时,主要采用( )。A.超声探伤、磁粉探伤B.超声探伤、射线探伤C.超声探伤、渗透探伤D.磁粉探伤、渗透探伤

在筒身外壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A、大B、小C、相同D、以上都可以

为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探头探伤应选用()A、小K值探头B、大K值探头C、软保护膜探头D、高频探头

在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数()A、大B、小C、相同D、以上都可能

探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时,如仪器用平试块按深度1:1调扫描,下面哪种说法正确()A、缺陷实际径向深度总是小于显示值B、显示的水平距离总是大于实际弧长C、显示值与实际值之差,随显示值的增加而减小D、以上都正确

在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数:()A、大B、小C、相同D、以上都可以

表面波探伤时,仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以

一般探伤时不使用深度补偿是因为它会:()A、影响缺陷的精确定位B、影响AVG曲线或当量定量法的使用C、导致小缺陷漏检D、以上都不对

筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数()A、大B、小C、相同D、以上都可以

表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以

超声波探伤,为获得稳定的耦合状态,在曲面探伤时探头上可加用()。

在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应用()直探头。

在筒身内壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A、大B、小C、相同D、以上都可以

深度相同但表面状态不同的缺陷,在相同探伤灵敏度下,两者的回波高度不同。

大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

单选题探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时,如仪器用平试块按深度1:1调扫描,下面哪种说法正确()A缺陷实际径向深度总是小于显示值B显示的水平距离总是大于实际弧长C显示值与实际值之差,随显示值的增加而减小D以上都正确

填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

单选题在筒身内壁作曲面周向探伤时,所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数()A大B小C相同D以上都可以

单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数()A大B小C相同D以上都可能

单选题在筒身内壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数:()A大B小C相同D以上都可以

单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数:()A大B小C相同D以上都可以

单选题筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数()A大B小C相同D以上都可以

单选题一般探伤时不使用深度补偿是因为它会:()A影响缺陷的精确定位B影响AVG曲线或当量定量法的使用C导致小缺陷漏检D以上都不对

填空题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应用()直探头。

单选题在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数:()A大B小C相同D以上都可以

填空题超声波探伤,为获得稳定的耦合状态,在曲面探伤时探头上可加用()。

单选题表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()。A缺陷深度B缺陷至探头前沿距离C缺陷声程D以上都可以