工艺规程中未规定表面粗糙度的粗加工工序,加工后的表面的粗糙度Ra值应不大于()μm。 A.12.5B.25C.50D.100
壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。 A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm
外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于()。 A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm
皮带轮的带轮直径小于等于300mm的工作表面的粗糙度Ra值不大于（）。A、6.3B、3.2C、1.6D、0.8
千分尺的工作面及校对用量杆工作面，其表面粗糙度Ra不大于（）A、0.04umB、0.05umC、0.063um
千分尺校对用量杆的检定包括两项内容：量杆的尺寸和测量面的平面度。
研磨后，在平整的铅板上校对滑阀下工作面的平面度，必要时用粗糙度仪检测，滑阀面的粗糙度Ra不大于（）。A、0.1mB、0.2mC、0.3mD、0.4m
工艺规程中未规定表面粗糙度的粗加工工序，加工后的表面的粗糙度Ra值应不大于（）μm。A、12.5B、25C、50D、100
百分表测头工作面的表面粗糙度中对钢质的测头应不大于Ra（）μm，对硬质合金的测头应不大于Ra（）μm。
外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A、0.02μmB、0.03μmC、0.04μmD、0.05μm
外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A、光洁度样板B、表面粗糙度比较样块C、比较仪D、放大镜
零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。
分度值为0.02mm游标卡尺和数显卡尺，其外测量爪工作面的表面粗糙度Ra不大于（）A、0.32umB、0.16umC、0.63um
深度游标卡尺尺身和尺框测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块比较检定，对于分度值为0.02mm的Ra值不大于（）；分度值为0.05和0.1mm的Ra值不大于（）。
壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。A、1umB、1.2umC、1.5um
外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
填空题百分表测头工作面的表面粗糙度中对钢质的测头应不大于Ra（）μm，对硬质合金的测头应不大于Ra（）μm。
单选题壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。A0.04μmB0.05μmC0.10μm
单选题千分尺的工作面及校对用量杆工作面，其表面粗糙度Ra不大于（）A0.04umB0.05umC0.063um
单选题壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。A1umB1.2umC1.5um
单选题工艺规程中未规定表面粗糙度的粗加工工序，加工后的表面的粗糙度Ra值应不大于（）μm。A12.5B25C50D100
单选题外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于（）。A0.04μmB0.05μmC0.10μm
填空题零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。
单选题分度值为0.02mm游标卡尺和数显卡尺，其外测量爪工作面的表面粗糙度Ra不大于（）A0.32umB0.16umC0.63um
填空题深度游标卡尺尺身和尺框测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块比较检定，对于分度值为0.02mm的Ra值不大于（）；分度值为0.05和0.1mm的Ra值不大于（）。