外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于()A、0.02μmB、0.03μmC、0.04μmD、0.05μm

外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于()

  • A、0.02μm
  • B、0.03μm
  • C、0.04μm
  • D、0.05μm

相关考题:

使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。 A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒

用千分尺测量工件时,先旋转微分套筒,当()时改用旋转棘轮,直到棘轮发出2-3下“卡卡”声时,开始读数 A、测砧与工件测量表面接近B、测砧远离工件表面C、测砧与测微螺杆接近D、测砧远离测微螺杆。

壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。 A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm

外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于()。 A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm

下列哪些结构是外径千分尺组成部分()A、测砧B、内外测量爪C、测力装置D、隔热装置E、转数指针

测量范围为25~50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。

在同一工件上,工作表面的粗糙度一般()非工作表面的粗糙度数值。A、小于B、等于C、大于D、大于或等于

外径千分尺的读数机构是由()等部分组成的。A、固定测砧B、测力装置C、固定套管D、微分筒E、测微螺杆F、螺纹轴套

测量时,外径千分尺的()和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪

v型测砧千分尺是用于测量等分()数槽零件外径尺寸的一伸待殊测微量具。

V形测砧千分尺是用于测量等分奇数槽零件外径尺寸的一种特殊测微量具。

使用外径千分尺时,不得强行转动微分筒,要尽量使用()。A、止动环B、测力装置C、测砧D、测微螺杆

轧道衡刀子、刀承工作面的表面粗糙度不得大于()。A、△7B、1.6粗糙度C、△6

百分表测头工作面的表面粗糙度中对钢质的测头应不大于Ra()μm,对硬质合金的测头应不大于Ra()μm。

在外径千分尺的检定过程中,量块不仅可以用来检定丝杆示值,还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的()。

1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为()A、0.3μmB、0.6μmC、0.9μmD、1.0μm

外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用()检A、光洁度样板B、表面粗糙度比较样块C、比较仪D、放大镜

外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于(),壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于()。

填空题在外径千分尺的检定过程中,量块不仅可以用来检定丝杆示值,还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的()。

单选题壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。A0.04μmB0.05μmC0.10μm

判断题测量范围为25~50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A对B错

单选题轧道衡刀子、刀承工作面的表面粗糙度不得大于()。A△7B1.6粗糙度C△6

单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于()A0.02μmB0.03μmC0.04μmD0.05μm

单选题1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为()A0.3μmB0.6μmC0.9μmD1.0μm

单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用()检A光洁度样板B表面粗糙度比较样块C比较仪D放大镜

填空题外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于(),壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于()。

单选题外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于()。A0.04μmB0.05μmC0.10μm