关于不合格品率控制图的说法,正确的有( )。A.子组大小可以不相等B.子组大小相等时控制限为凹凸状,无法判异C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化D.用于分析过程不合格品率的波动E.理论基础是指数分布

关于不合格品率控制图的说法,正确的有( )。
A.子组大小可以不相等

B.子组大小相等时控制限为凹凸状,无法判异

C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化

D.用于分析过程不合格品率的波动

E.理论基础是指数分布


参考解析

解析:。不合格品率控制图的理论基础是二项分布,所以选项E错误。子组大小相等时呈直线状,所以B错误。

相关考题:

下列属于计量值控制图的是()。 A.单位缺陷数控制图B.不合格品数控制图C.中位数-极差控制图D.不合格品率控制图

计量值控制图包括( )。 A.均值-极差控制图B.不合格品率控制图C.不合格品数控制图D.缺陷数控制图

在计数值控制图中,计算量大、控制线凸凹不平、样本数量不等的控制图是() A、不合格品数控制图B、不合格品率控制图C、缺陷数控制图D、单位缺陷数控制图

np图是()。 A、不合格品数控制图B、不合格品率控制图B、缺陷点数图D、单位缺陷点图

下面属于计量值控制图的有() A.不合格品数控制图B.不合格品率控制图C.中位数-极差控制图D.缺陷数控制图

属于计量值控制图的有()。 A、不合格品数控制图B、中位数—极差控制图C、缺陷数控制图D、不合格品率控制图

关于p控制图的说法,正确的有( )。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布

关于不合格品率控制图的说法,正确的有( )。A.子组大小可以不相等B.子组大小相等时控制限为凹凸状,无法判异C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化D.用于分析过程不合格品率的波动E.理论基础是指数分布

关于建立P图的情况,下列说法不正确的是( )。D. 控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p,且各个产品的生产是独立的

在计数型控制图中,u图是指( )。A.不合格品率控制图B.不合格品数控制图C.不合格数控制图D.单位产品不合格数控制图

以下属于计量值控制图的是()。A、不合格品数控制图B、不合格品率控制图C、缺陷数控制图D、平均值控制图

计数值控制图所依据的数据均属于以单位个数或次数计算,它包括()。A、合格品数控制图B、合格品率控制图C、平均缺陷数控制图D、单位缺陷数控制图

下列控制图中,以二项分布为基础的有()。A、单值-移动极差控制图B、不合格品数控制图C、中位数-极差控制图D、不合格品率控制图

用于分析过程不合格品率波动状况的图形是()。A、Xbar-R控制图B、C控制图C、μ控制图D、P控制图

np控制图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数质量指标的场合。

用于控制产品的不合格品率和不合格品数的通用控制图为()。A、计件值通用控制图B、计点值通用控制图C、计量值控制图D、计数控制图

计数值控制图的类别有()。A、不合格品数控制图B、不合格品率控制图C、缺陷数控制图D、单位缺陷数控制数E、合格率控制图

下列属于计量值控制图的是()A、均值极差控制图B、均值标准差控制图C、不合格品率控制图D、控制图

利用不合格品数控制工序质量的控制图称为()A、缺陷数控制图B、缺陷率控制图C、不合格品率控制图D、不合格品数控制图

属于计量值控制图的有()A、不合格品数控制图B、不合格品率控制图C、中位数一极差控制图D、缺陷数控制图

单选题用于控制产品的不合格品率和不合格品数的通用控制图为()。A计件值通用控制图B计点值通用控制图C计量值控制图D计数控制图

单选题在计数值控制图中,计算量大、控制线凸凹不平、样本数量不等的控制图是()。A不合格品数控制图B不合格品率控制图C缺陷数控制图D单位缺陷数控制图

单选题常规控制图的分类说法不正确的是:()。AP不合格品率控制图BX-MR不合格品率控制图CU单位产品不合格数控制图DC不合格数控制图

单选题下列不属于计数值控制图的是()。A缺陷率控制图B不合格品数控制图C不合格品率控制图D平均值与极差控制图

单选题计数值控制图所依据的数据均属于以单位个数或次数计算,它包括()。A合格品数控制图B合格品率控制图C平均缺陷数控制图D单位缺陷数控制图

单选题在计数值控制图中,P图表示( )A不合格品数控制图B不合格品率控制图C缺陷数控制图D单位缺陷数控制图

单选题在计数值控制图中,样本量可以不等的控制图是( )A不合格品数控制图B不合格品率控制图C缺陷控制图D单位缺陷数控制图

单选题属于计量值控制图的有()A不合格品数控制图B不合格品率控制图C中位数一极差控制图D缺陷数控制图