曲面工件探测时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，使入射点改变，从而引起K值变化。
曲面工件探测时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，使入射点改变，从而引起K值变化。
参考答案和解析
软保护膜直探头
相关考题：
按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:下列叙述与检测技术等级无关的是:() A.纵向缺陷的检测B.横向缺陷的检测C.探头K值及探头数量D.直径≤500mm曲面工件对接焊缝用曲面对比试块。
横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：下列叙述与检测技术等级有关的是：（）A、纵向缺陷的检测B、横向缺陷的检测C、探头K值及探头数量D、直径≤500mm曲面工件对接焊缝用曲面对比试块
横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化
单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A探头磨损会使入射点发生变化B探头磨损可能导致探头K值的增大C探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D探头磨损可能导致探头K值的减小
单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A探头磨损会使入射点发生变化B 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D 探头磨损可能导致扫描速度的变化
单选题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A硬保护膜直探头B软保护膜直探头C大尺寸直探头D高频直探头