外力引起电阻率变化的元件是______。A.金属电阻应变片B.半导体电阻应变片C.压电元件D.霍尔元件
金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。 A、金属丝几何尺寸的变化B、金属丝材料弹性模量的变化C、金属丝电阻率的变化D、金属丝压阻系数的变化
电阻应变片的灵敏度系数K指的是（ ）。 A、应变片电阻值的大小 B、单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C、应变片金属丝的截面积的相对变化 D、应变片金属丝电阻值的相对变化
采用电阻应变片量测结构应变，测试结果对环境温度的变化不敏感。（ ）
在压变片式压力变送器中，应变片将压力转换为应变片的（）。A、电阻值变化B、电压值变化C、电流值变化D、电容值变化
沿应变片轴向的应变ex必然引起应变片电阻的相对变化，而沿垂直于应变片轴向的横向应变ey也会引起其电阻的相对变化，这种现象称为（）。
金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用金属的（）引起的电阻变化，后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。
金属丝的电阻应变效应中，引起电阻改变的主要原因是电阻率的改变
粘贴到试件上的电阻应变片，环境温度变化会引起电阻的相对变化，产生虚假应变，这种现象称为温度效应，简述产生这种现象的原因。
金属应变片与半导体应变片在工作原理上都是利用金属形变引起电阻的变化。
金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于：前者利用（）引起的电阻变化，后者利用（）变化引起的电阻变化。
温度引起电阻应变片阻值变化的原因有两个，其一 （）。其二 （）。
因环境温度改变而引起的附加电阻变化或者造成的视应变，除与环境温度变化有关外，还与应变计本身的性能参数k、α。βs以及被测构件的线膨胀系数βg有关。
金属应变片工作原理是利用（）效应；半导体应变片工作原理是利用（）效应。二者灵敏系数主要区别是：金属应变片的电阻变化主要由（）引起的，半导体应变片的电阻变化主要由（）引起的。
造成电阻式应变片测量产生误差的原因有很多，其中温度影响是最重要的。当环境温度发生变化时会导致应变片本身（）发生变化。
因环境温度改变而引起的附加电阻变化或者造成的视应变，与下列哪些因素有关（）。A、环境温度变化B、应变计本身的性能参数κ、α、βC、被测构件的线膨胀系数βgD、应变丝的长度l
金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么？以及相应的补偿措施？
金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A、压阻效应B、压磁效应C、压电效应D、电阻丝的几何尺寸变化
由于测量现场环境温度的改变，而引起应变片电阻的附加相对变化量，称为（），因此而给测量带来的附加误差 ，称为应变片的（），又叫应变片的（）。产生上述现象的原因是由于阻丝（）的存在和试件与电阻丝材料（）的不同。
问答题粘贴到试件上的电阻应变片，环境温度变化会引起电阻的相对变化，产生虚假应变，这种现象称为温度效应，简述产生这种现象的原因。
单选题金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A压阻效应B压磁效应C压电效应D电阻丝的几何尺寸变化
单选题电阻应变片的灵敏度系数K指的是（）。A应变片电阻值的大小B单位应变引起的应变片相对电阻值变化C应变片金属丝的截面积的相对变化D应变片金属丝电阻值的相对变化
单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是（）A金属应变片主要利用压阻效应B金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高，但非线性误差大。
填空题沿应变片轴向的应变ex必然引起应变片电阻的相对变化，而沿垂直于应变片轴向的横向应变ey也会引起其电阻的相对变化，这种现象称为（）。
填空题电阻应变式传感器：传感器中的电阻应变片具有金属的应变效应，即在外力作用下产生机械形变，从而使电阻值随之发生相应的变化。电阻应变片主要有（）和（）两类。
单选题（）传感器是通过改变电路中电阻值的大小，实现将位移转换为电阻值的变化。A金属电阻应变片式B变极距式C线绕变阻式D半导体应变片
问答题金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么？以及相应的补偿措施？
填空题金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用金属的（）引起的电阻变化，后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。