介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。A对B错

介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。

A对

B错

参考解析

略

相关考题：

介质损耗角正切的测量对于测量大容量设备的局部缺陷比较有效。() 此题为判断题(对，错)。
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A对B错
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当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。A对B错
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介质损耗角正切值测量时的试验电压不超过被试设备的额定工作电压，属于非破坏性试验。A对B错
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。A对B错
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M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。A对B错
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在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错
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当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错
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介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
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在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。
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当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。
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介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。
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介质损耗角正切值测量时的试验电压不超过被试设备的额定工作电压，属于非破坏性试验。
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M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。
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电流互感器交接试验，干式电流互感器介质损耗角正切值tanδ（20℃）应不大于（）%。A、0.5B、0.6C、0.7D、0.8
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当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应（）。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，影响测试结果的因数包括（）。A、温度、湿度的影响B、电场干扰影响C、外界磁场的影响D、试品表面泄漏的影响
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tanδ是介质损耗因数，用百分比表示其数值，实际上它是介质损耗角δ的正切值。
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判断题介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。A对B错
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判断题在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错
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判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A对B错
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判断题M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。A对B错
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判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变电压的相位，测量tanδ的方法选相倒相法。A对B错
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判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错
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判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。A对B错
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