伪像产生的原因很多，错误的是A．反射和折射B．混响C．仪器和探头品质差D．操作者的技术因素：DCG、聚焦调节不当等E．声衰减
声像图伪像产生与以下何种因素无关A、反射、折射如混响、侧边声影B、声束宽度或断层厚度C、声衰减因素D、仪器操作者技术因素E、超声的功率大小
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A．多途径伪像B．旁瓣伪像C．混响伪像D．散射伪像E．折射伪像
由超声多次反射而引起的伪像叫 ( )A、切面厚度伪像B、混响C、声影D、旁瓣伪像E、折射伪像
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关()。A.超声波的反射B.超声波的折射C.超声波的反射和折射D.超声的衰减E.图像分辨力降低
声能量在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A、镜面伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、棱镜伪像E、折射伪像
声像图伪像产生的原因不包括A、反射、折射B、衰减C、仪器设备D、气温E、操作者技术因素
声能量在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为A.镜面伪像B.旁瓣伪像C.混响伪像D.棱镜伪像E.折射伪像
由超声多次反射而引起的伪像叫（）.A、折射声影B、混响C、声影D、旁瓣伪像
超声脉冲在界面和探头之间往返两次以上产生的伪像称为A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、镜面伪像D、混响伪像E、折射伪像
假象产生的主要原因是由于（）。A、反射B、折射C、混响D、消退E、散射
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）A、超声波的反射B、超声波的折射C、超声波的反射和折射D、超声的衰减E、图像分辨率降低
下面哪种伪像是由于前方有强吸收或反射区而形成的（）。A、混响B、声影C、折射伪像D、旁瓣伪像
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、折射伪像
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）。A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、切面厚度伪像
混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）。A、超声波的反射B、超声波的折射C、声束宽度D、超声衰减E、图像分辨力低
脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）A、多途径伪像B、旁瓣伪像C、混响伪像D、散射伪像E、双重反射伪像
单选题声像图伪像产生的原因不包括（）A反射、折射B衰减C仪器设备D气温E操作者技术因素
单选题超声脉冲在界面和探头之间往返两次以上产生的伪像称为A多途径伪像B旁瓣伪像C镜面伪像D混响伪像E折射伪像
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）A多途径伪像B旁瓣伪像C混响伪像D散射伪像E双重反射伪像
单选题由超声多次反射而引起的伪像叫（）。A切面厚度伪像B混响C声影D旁瓣伪像E折射伪像
单选题伪像产生的原因很多，错误的是（ ）。A反射和折射B混响C仪器和探头品质差D操作者的技术因素：DCG、聚焦调节不当等E声衰减
单选题下面哪种伪像是由于前方有强吸收或反射区而形成的（）。A混响B声影C折射伪像D旁瓣伪像
单选题混响伪像产生的原因与下列哪一项有关（）。A超声波的反射B超声波的折射C声束宽度D超声衰减E图像分辨力低
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（ ）。A多途径伪像B旁瓣伪像C混响伪像D散射伪像E折射伪像
单选题脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪像称为（）。A多途径伪像B旁瓣伪像C混响伪像D散射伪像E切面厚度伪像
单选题由超声多次反射而引起的伪像叫（）.A折射声影B混响C声影D旁瓣伪像