下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
距离－幅度对比试块中,可改变的是() A、孔的直径B、孔底的角度C、孔至探测面距离D、孔的长度与孔轴线和试块轴线的不平行度
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷
在X≥3N的距离上，当孔径相同时，若声程相差一倍，则横通孔回波高度差()DBA.12B.3C.6D.9
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷
在X≥3N的距离上，当孔径相同时，若声程相差一倍，则横通孔回波高度差（）dBA、12B、3C、6D、9
声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，平底孔回波高度差（）dB，横通孔的回波高度差（）dB，球孔回波高度差（）dB。
声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差（）dB，横通孔的回波高度差（）dB，球孔回波高度差（）dB。
垂直法探伤应用（）探头，将波型为（）的波束垂直入射至工件探测面，以不变的（）和（）射入工件。
探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。A、相同B、光洁度低的高C、光洁度高的高D、光结度高的低
一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A、相同B、增高C、降低D、延长
若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A、改变频率B、调整波束入射角C、打磨探测面D、提高探伤灵敏度
深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度底。
面积──幅度对比试块中的平底孔是：（）A、孔径相同B、孔径不同距离相同C、孔至探测面深度不一D、上述都不对
单选题一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A相同B增高C降低D延长
单选题探测面光洁度分别△2和△1的两个试块中，具有直径、取向、距离都相同的横通孔，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度：（）A相同B△2的比△1的高C△1的比△2的高D上述都不是
单选题若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A改变频率B调整波束入射角C打磨探测面D提高探伤灵敏度
填空题声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差（）dB，横通孔的回波高度差（）dB，球孔回波高度差（）dB。
判断题处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度底。A对B错
判断题深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。A对B错
单选题在X≥3N的距离上，当声程相同时，若孔径相差一倍，则横通孔回波高度差（）dBA12B3C6D9
单选题处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。A与前者一样B比前者低C比前者高D比前者高而且显示位置提前
单选题面积──幅度对比试块中的平底孔是：（）A孔径相同B孔径不同距离相同C孔至探测面深度不一D上述都不对
单选题探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。A相同B光洁度低的高C光洁度高的高D光结度高的低
判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A对B错
填空题声程大于3N且声程相同时，若孔径相同，声程差一倍，平底孔回波高度差（）dB，横通孔的回波高度差（）dB，球孔回波高度差（）dB。