在X射线衍射仪中,试样绕中心轴转动,不断改变 与晶面夹角θ 。

在X射线衍射仪中,试样绕中心轴转动,不断改变 与晶面夹角θ 。


参考答案和解析
B

相关考题:

X射线衍射的布拉格方程中,d(hkl)为( )。A.某一点阵面的晶面间距B.X射线的波长C.衍射角D.衍射强度E.晶格中相邻的两质点之间的距离

在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()

X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。

()是鉴定物相的主要依据。 A.X射线B.衍射线相对强度C.衍射峰高D.晶面间距表征衍射线位置

X射线衍射的布拉格方程中,dhk1为( )。A.某一点阵面的晶面间距B.X射线的波长C.衍射角D.衍射强度E.晶格中相邻的两质点之间的距离

波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:A. 2dsinθ = kλB. dsinθ= kλC. 2dcosθ= kλD. dcosθ = kλ

波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的射线与晶面的夹角)满足的公式为:(A)2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ(C)2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ

X射线衍射的布拉格方程中,d(hkl)为A .某一点阵面的晶面间距 B . X射线的波长 C .衍射角 D .衍射强度 E .晶格中相邻的两质点之间的距离

当X射线波长()2倍晶面间距时产生衍射现象。

只有X射线波长小于或等于()晶面间距时,才能产生衍射现象。A、1倍B、2倍C、3倍

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

一束波长为0.54nm的单色光入射到一组晶面,在与晶面夹角为30度的方向产生一级衍射极大,该晶面的间距为()nm。

比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为()。A、2dsinθ=kλB、dsinθ=kλC、2dcosθ=kλD、dcosθ=kλ

单选题X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使()A衍射峰变强B衍射峰变弱C衍射峰变宽D衍射峰变窄

问答题衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同?

判断题在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。A对B错

填空题X射线管中,焦点形状可分为()和(),适合于衍射仪工作的是()

问答题试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收,以及衍射线记录等方面与德拜法有何异同?测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30°角时,计数管与入射线成多少度角?

问答题测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成300角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关系?

填空题在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是稳定、强度大、()

单选题衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?()A30度;B60度;C90度。

问答题测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与人射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈何种几何关系?

问答题如果一个样品的X射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低,而衍射峰强度比卡片值明显偏高,说明该样品就有什么样的结构特征?

问答题比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

填空题一束波长为0.54nm的单色光入射到一组晶面,在与晶面夹角为30度的方向产生一级衍射极大,该晶面的间距为()nm。

问答题什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?

填空题X射线衍射仪由X射线发生器、()、()和()4个基本*部分组成,现代X射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统。