(判断)发现缺陷越多的模块隐藏的缺陷可能也越少。 ()

(判断)发现缺陷越多的模块隐藏的缺陷可能也越少。 ()


参考答案和解析
错误

相关考题:

假如某零件生产流程,客户对该零件的尺寸非常关注,当客户的规格已经确定时,请问该过程的标准差、西格玛水平、缺陷之间的关系是:() A.标准差越大时,西格玛水平越低,超出规格限的缺陷品越多.B.标准差越大时,西格玛水平越低,超出规格限的缺陷品越少C.标准差越大时,西格玛水平越高,超出规格限的缺陷品越多D.标准差越大时,西格玛水平越高,超出规格限的缺陷品越少

一经发现并改正了程序中隐藏的缺陷,然后再重新执行以前发现这个缺陷的测试,查看此缺陷是否重现。这种测试方法被称作______。A) 增量测试B) 回归测试C) 大突击测试D) 动态测试A.B.C.D.

Myers提出的软件缺陷的群集现象指的是 ______。A.在软件测试过程中,缺陷不会少量出现,而会成群的出现B.在测试一个功能部件的过程中,通常一次会发现很多缺陷C.在测试的各个功能部件中,一般不是没有发现缺陷,就是发现许多缺陷D.一个功能部件已发现的缺陷越多,找到它的更多未发现的缺陷的可能性就越大

Myers提出的软件缺陷的群集现象指的是______。A) 在软件测试过程中,缺陷不会少量出现,而会成群出现B) 在测试一个功能部件的过程中,通常一次会发现很多缺陷C) 在测试的各个功能部件中,一般不是没有发现缺陷,就是发现许多缺陷D) 一个功能部件已发现的缺陷越多,找到它的更多未发现的缺陷的可能性就越大A.B.C.D.

某零件生产流程,客户给定了零件尺寸规格,请问该流程的标准差与西格玛水平之间的关系是:() A.标准差越大时,西格玛水平越低,超过规格限的缺陷品越多B.标准差越大时,西格玛水平越低,超过规格限的缺陷品越少C.标准差越大时,西格玛水平越高,超过规格限的缺陷品越多D.标准差越大时,西格玛水平越高,超过规格限的缺陷品越少

以下关于缺陷探测率(DDP)的表述,不正确的是______。A.DDP是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标B.缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少C.DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标D.测试周期越长,缺陷探测率就会越高A.B.C.D.

● 以下关于缺陷探测率(DDP)的表述,不正确的是__。A.DDP是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标B.缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少C.DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标D.测试周期越长,缺陷探测率就会越高

注册会计师所需获取的审计证据数量受各种因素的影响。以下关于审计证据数量的说法中,正确的是( )。A.错报风险越大,需要的审计证据可能越多B.审计证据质量越高,需要的审计证据可能越少C.证据的质量存在的缺陷越多,所需的证据越多D.获取的原件证据可能比获取的复印件证据少

缺陷严重程序较低的缺陷,也可能具有很高的缺陷优先级。( )此题为判断题(对,错)。

找出的软件缺陷越多,说明剩下的软件缺陷越少。 ( )此题为判断题(对,错)。

下列___不属于测试原则的内容A.软件测试是有风险的行为B.完全测试程序是不可能的C.测试无法显示潜伏的软件缺陷D.找到的缺陷越多软件的缺陷就越少

以下关于缺陷探测率(DDP)的表述,不正确的是( )A.DDP是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标B.缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少C.DDP是衡量测试投资回报的一个主要指标D.测试周期越长,缺陷探测率就会越高DDP是一个衡量测试工作效率的软件质量成本指标。缺陷探测率越高,也就是测试者发现的错误越多,发布后客户发现的错误才可能越少,降低了外部故障不致成本,达到了节约总成本的目的,可获得较高的测试投资率(ROI)。因此,.DDP是衡量测试投资回报的一个重要指标。测试周期越长,缺陷探测率不一定会越高,但测试成本越高。

下列()不属于测试原则的内容。A、软件测试是有风险的行为B、完全测试程序是不可能的C、测试无法显示潜伏的软件缺陷D、找到的缺陷越多软件的缺陷就越少

内部控制缺陷可能是设计缺陷,也可能是()。A、管理缺陷B、技术缺陷C、运行缺陷D、控制缺陷

没有检出缺陷的设备也可能存在()缺陷。

下面有关显示评估的叙述中,错误的是()A、显示越明显说明缺陷严重性较高B、显示形成的时间与缺陷大小无关C、把显示连同显像剂小心擦掉,再施加显像剂,若显示可重现的次数越多,说明缺陷越深D、显示的亮度也可作为判断缺陷严重程度的依据之一

调制面团时用油量越多,则面筋的生成量(),而面团也越()。A、越多、有劲B、越多、松散C、越少、有劲D、越少、松散

下面那个说法是错误的:()A、软件测试是有风险的行为B、完全测试程序是不可能的C、测试无法显示潜伏的软件缺陷D、找到的缺陷越多,软件的缺陷就越少

找出的软件缺陷越多,说明剩下的软件缺陷越少。

某零件生产流程,客户给定了零件尺寸规格,请问该流程的标准差与六西格玛水平之间的关系时()A、标准差越大时,西格玛水平越低,超过规格限的缺陷品越多缺陷数多B、标准差越小时,西格玛水平越低,超过规格限的缺陷品越多C、标准差越大时,西格玛水平越高,超过规格限的缺陷品越多D、标准差越大时,西格玛水平越高,超过规格限的缺陷品越少

漏网缺陷是指()A、几乎不可能复制的缺陷B、不可复制的缺陷C、在最近的一次迭代的无缺陷建立中漏筛的缺陷D、开发或测试团队没有发现但是被终端用户发现的缺陷

注册会计师所需获取的审计证据数量受各种因素的影响。以下相关说法中,不正确的是()。A、审计客户规模越大,需要的审计证据可能越多B、连续审计的年限越长,所需的审计证据可能越少C、证据的质量缺陷越多,所需的审计证据越多D、业务越复杂,需要的审计证据可能越多

判断题找出的软件缺陷越多,说明剩下的软件缺陷越少。A对B错

单选题下面那个说法是错误的:()A软件测试是有风险的行为B完全测试程序是不可能的C测试无法显示潜伏的软件缺陷D找到的缺陷越多,软件的缺陷就越少

单选题内部控制缺陷可能是设计缺陷,也可能是()A管理缺陷B技术缺陷C运行缺陷D控制缺陷

多选题注册会计师所需获取的审计证据的数量受各种因素的影响,下列关于审计证据数量的说法中,正确的有(  )。A获取原件证据可能比获取复印件证据少B审计证据质量越高,需要的审计证据可能越少C证据的质量存在的缺陷越多,所需的证据越多D错报风险越大,需要的审计证据可能越多

单选题假如某零件生产流程,客户对该零件的尺寸非常关注,当客户的规格已经确定时,请问该过程的标准差(standardDeviation)与Sigma水平(SigmaLevel)之间的关系是:()A标准差越大时,Sigma水平越低,超出规格限的缺陷品越多B标准差越大时,Sigma水平越低,超出规格限的缺陷品越少C标准差越大时,Sigma水平越高,超出规格限的缺陷品越多D标准差越大时,Sigma水平越高,超出规格限的缺陷品越少

单选题漏网缺陷是指()A几乎不可能复制的缺陷B不可复制的缺陷C在最近的一次迭代的无缺陷建立中漏筛的缺陷D开发或测试团队没有发现但是被终端用户发现的缺陷