2、2. Glejser检验不仅能对异方差的存在进行判断,而且还能对异方差随某个解释变量变化的函数形式进行诊断。

2、2. Glejser检验不仅能对异方差的存在进行判断,而且还能对异方差随某个解释变量变化的函数形式进行诊断。


参考答案和解析
正确

相关考题:

计量经济模型的计量经济检验通常包括随机误差项的异方差检验、()检验、解释变量的()检验。

顺序变量不仅能对变量的大小进行排序,而且还能测量出其大小。此题为判断题(对,错)。

顺序变量不仅能对变量的大小进行排序,而且还能测量出其大小。

Glejser检验方法主要用于检验()A.异方差性B.自相关性C.随机解释变量D.多重共线性

下列说法正确的是( )A.异方差是样本现象B.异方差的变化与解释变量的变化有关C.异方差是总体现象D.时间序列更易产生异方差

在多元线性回归模型中,若某个解释变量对其余解释变量的判定系数接近于1,则表明模型中存在( )。A.异方差B.序列相关C.多重共线性D.高拟合优度

下列关于异方差性检验的叙述,正确的是( )。A.通过图示法可以精确断定模型是否存在异方差性B.G-Q检验需要对样本进行排序C.G-Q检验不需要对样本进行排序D.怀特(White)检验需要对样本进行排序

下列说法不正确的是( )A.异方差是一种随机误差现象B.异方差产生的原因有设定误差C.检验异方差的方法有F检验法D.修正异方差的方法有加权最小二乘法

经检验后,若多元回归模型中的一个解释变量是另一个解释变量的0.95倍,则该模型中存在( )。 A、多重共线性B、异方差C、自相关D、非正态性

异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A.Ⅱ.Ⅲ.ⅣB.Ⅰ.Ⅲ.ⅣC.Ⅰ.Ⅱ.ⅣD.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A:Ⅱ.Ⅲ.ⅣB:Ⅰ.Ⅲ.ⅣC:Ⅰ.Ⅱ.ⅣD:Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

下列关于异方差性检验的叙述,正确的是()。A、通过图示法可以精确判断模型是否存在异方差性B、戈德菲尔德—匡特检验需要对样本进行排序C、戈德菲尔德—匡特检验不需要对样本进行排序D、怀特检验需要对样本进行排序

White检验方法主要用于检验()A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

在多元线性回归模型中,若某个解释变量对其余解释变量的判定系数接近1,则表明 模型中存在()A、异方差B、自相关C、多重共线性D、设定误差

在多元线性回归模型中,若某个解释变量对其余解释变量的判定系数接近于1,则表明模型中存在()。A、异方差B、序列相关C、多重共线性D、高拟合优度

模型变换法即对存在异方差性的模型进行变量变换,使变换后的模型满足()假定。

异方差的检验方法有()。A、图示检验法B、Glejser检验C、white检验D、D.W.检验E、Goldfeld-Quandt检验

下列关于异方差性、自相关性和多重共线性的说法,正确的有()。A、当存在异方差性、自相关性和多重共线性时,都会导致参数显著性检验失去意义B、当存在异方差性、自相关性和多重共线性时,利用普通最小二乘法的估计量都存在C、当存在异方差性、自相关性和多重共线性时,仍然可以进行模型预测D、当存在异方差性、自相关性和多重共线性时,如果参数估计量存在,那么都具有有效性E、当存在异方差性、自相关性和多重共线性时,都可以通过一定的方法进行补救

Glejser检验方法主要用于检验()A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

戈里瑟检验方法主要用于检验()。A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

DW检验主要用于检验()。A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

Goldfeld-Quandt方法用于检验()A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

Gleiser检验法主要用于检验()。A、异方差性B、自相关性C、随机解释变量D、多重共线性

如果存在异方差,通常使用的t检验和F检验无效。

单选题异方差的检验方法有() I DW检验法 ⅡWhite检验 III Glejser检验 IV 残差图分析法AI、II、IVBI、II、IIICII、III、IVDI、III、IV

单选题在多元线性回归模型中,若某个解释变量对其余解释变量的判定系数接近1,则表明 模型中存在()A异方差B自相关C多重共线性D设定误差

多选题下面关于回归模型中异方差性的陈述正确的是()A不符合回归模型假定前提B误差的方差不会因自变量变化而变化C可以使用画图法来检验D误差方差为变量E可以用DW统计值检验br /

单选题异方差的检验方法有(  )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法AⅠ、Ⅱ、ⅢBⅠ、Ⅱ、ⅣCⅠ、Ⅲ、ⅣDⅡ、Ⅲ、Ⅳ