使用2.5兆赫、Φ20毫米直探头探测如右图所示的筒体锻件,探测时以筒体内表面作参考反射体,起始灵敏度为Φ2毫米平底孔,波高40%,此时的校验分贝和探测分贝各为()A.32.8分贝和0分贝B.35分贝和0分贝C.39分贝和0分贝D.38分贝和0分贝

使用2.5兆赫、Φ20毫米直探头探测如右图所示的筒体锻件,探测时以筒体内表面作参考反射体,起始灵敏度为Φ2毫米平底孔,波高40%,此时的校验分贝和探测分贝各为()

A.32.8分贝和0分贝
B.35分贝和0分贝
C.39分贝和0分贝
D.38分贝和0分贝

参考解析

解析:

相关考题:

在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。 ( )此题为判断题(对,错)。

灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。

对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。

探测饼类锻件时,常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度()A、平底孔B、横通孔C、矩形槽D、V型槽

锻件超声波探伤时,探测灵敏度的校验可以使用()A、AVG曲线B、参考试块C、工件的大平底D、以上都是

筒形锻件最主要探测方向是:()A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是

探测环类锻件时,常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度()A、平底孔B、V型或矩形槽C、横孔D、A和B

使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应用正反两个方向扫查。

用直探头对轴类锻件()作径向探测时,有时会出现三角反射波,两次三角反射波总是位于()之后,声程分别为()d和()d。

对饼形锻件,采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法

对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()

用直探头对直径为d的轴类锻件作径向探测时,有时会出现三角反射波。两次三角反射波总是位于()之后,声程分别为()d和()d。

在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。

用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

使用斜探头对轴类锻件作园柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查。

用2.5MHz,Φ20mm直探头探伤,试求200mm处Φ5平底孔与300mm处Φ2平底孔的分贝差。

填空题用直探头对直径为d的轴类锻件作径向探测时,有时会出现三角反射波。两次三角反射波总是位于()之后,声程分别为()d和()d。

问答题用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

判断题使用斜探头对轴类锻件作园柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查。A对B错

判断题灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。A对B错

判断题使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应用正反两个方向扫查。A对B错

单选题筒形锻件最主要探测方向是:()A直探头端面和外圆面探伤B直探头外圆面轴向探伤C斜探头外圆面轴向探伤D以上都是

填空题用直探头对轴类锻件()作径向探测时,有时会出现三角反射波,两次三角反射波总是位于()之后,声程分别为()d和()d。

单选题同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100、200和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的平底孔深度为()。A100mmB200mmC300mmD都相同

判断题在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。A对B错

单选题探测环类锻件时,常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度()A平底孔BV型或矩形槽C横孔DA和B

单选题探测饼类锻件时,常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度()A平底孔B横通孔C矩形槽DV型槽