判断题灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。A对B错

判断题
灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。
A

对

B

错

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在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。 （ ）此题为判断题(对，错)。
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根据《焊缝无损检测超声检测技术、检测等级和评定》（GB/T11345-2013）的规定,设定参考灵敏度采用“技术1”,应以直径（ ）mm的横孔作为基准反射体。A.2B.3C.4D.5;
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按零件结构中的几何形式，尺寸基准可分为（）、线基准、点基准。A、尺寸基准B、平面基准C、线段基准D、点线基准
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灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。
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用有人工反射体的参考试块主要目的是（）A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
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按照NB/T47013.3-2015标准规定，检测工作结束时应对基准灵敏度进行复核，如发现距离－波幅曲线上任一深度人工反射体回波幅度变化达到2dB，则应对上次复核以来所有检测部位进行复验。
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按GB/T11345-89标准中的RB-2试块的基准反射体为（）A、Ø1x6mmB、Ø2x40mmC、Ø3mmD、以上都不是
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据NB/T47013.3-2015标准规定，以下关于钢锻件横波检测的叙述，错误的是（）A、可以采用2.5P10ⅹ12K1横波斜探头B、人工反射体可以采用边角反射等其它形式C、以锻件内外表面V型槽的距离－波幅曲线作为基准灵敏度D、波幅在距离波幅曲线（基准线）50～100%的缺陷按缺陷指示长度进行分级
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调节探险伤系统的灵敏时，基准反射体的高度最好是（）A、萤光屏上刚刚显示出来B、回波高度饱和C、萤光屏满高度的50%~80%D、以上全都可以
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以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定
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使用对比试块的主要目的是（）。A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
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扫描线上显示的反射波距离与（）成正比。A、零点位移B、反射体回波高度C、反射体实际距离D、始脉冲宽度
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标定是以某些人工规则反射体的反射波高作为基准，对缺陷进行定量的方法。
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在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。
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（）是以某些人工的规则反射体的反射波高作为基准，而对缺陷进行定量的方法。A、当量法B、波高法C、延伸度法D、对比法
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新一代天气雷达的天线使用的是（）A、球面反射体B、平面反射体C、抛物面反射体D、园形反射体
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单选题间接回波的距离等于：（）A反射体至物标的距离与反射体离天线的距离之和B反射体至物标的距离与反射体离天线的距离之差C反射体至物标的距离D反射体离天线的距离
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单选题据NB/T47013.3-2015标准规定，以下关于钢锻件横波检测的叙述，错误的是（）A可以采用2.5P10ⅹ12K1横波斜探头B人工反射体可以采用边角反射等其它形式C以锻件内外表面V型槽的距离－波幅曲线作为基准灵敏度D波幅在距离波幅曲线（基准线）50～100%的缺陷按缺陷指示长度进行分级
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单选题（）是以某些人工的规则反射体的反射波高作为基准，而对缺陷进行定量的方法。A当量法B波高法C延伸度法D对比法
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判断题间接回波的距离等于反射体至物标的距离与反射体离天线的距离之和。A对B错
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单选题新一代天气雷达的天线使用的是（）A球面反射体B平面反射体C抛物面反射体D园形反射体
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单选题扫描线上显示的反射波距离与（）成正比。A零点位移B反射体回波高度C反射体实际距离D始脉冲宽度
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判断题标定是以某些人工规则反射体的反射波高作为基准，对缺陷进行定量的方法。A对B错
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判断题在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。A对B错
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单选题用有人工反射体的参考试块主要目的是（）A作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
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单选题按GB/T11345-89标准中的RB-2试块的基准反射体为（）AØ1x6mmBØ2x40mmCØ3mmD以上都不是
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多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定
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