S图的上、下控制限是( )。 A.B.C.D.

S图的上、下控制限是( )。 A.B.C.D.


相关考题:

在进行测量结果的合格性判断时,属于测量结果合格区是() A.上、下规范限分别内缩U值B.上、下规范限分别外延U值C.上、下规范限两侧+-U值D.上规范限外延U值、下规范限内缩U值

控制图由( )组成。A.上、下控制限B.规范限C.中心线D.点子链

s图的上、下控制限是( )。A.UCLs=0.0543B.LCLs=0C.无下控制线LCLsD.UCLs=0.035

Levey-Jennings质控图以x±3S为A、警告限B、失控限C、在控限D、误差限E、以上均都不是

Levey-Jennings质控图以平均值±3S为 ( )A、警告限B、失控限C、在控限D、误差限E、以上均都不是

关于详细设计阶段的工具,以下说法错误的是______。A) N-S图保证了单入口单出口程序结构B) PAD图支持自上而下逐步求精的方法C) 程序流程图可以实现随意的转移控制D) 伪码(PDL)是一种高级编程语言A.B.C.D.

质控图至少应包括( )A、上控制界限B、下控制界限C、中心线D、允许误差限E、允许不精密度限

以下关于程序流程图、N-S盒图和决策表的叙述中,错误的是______。A.N-S盒图可以避免随意的控制转移B.N-S盒图可以同时表示程序逻辑和数据结构C.程序流程图中的控制流可以任意转向D.决策表适宜表示多重条件组合下的行为A.B.C.D.

下列各项不属于p图控制线公式的是( )。A.B.C.D.

使用控制图对具有双侧规格限的质量特性值进行控制,中心线位于规格中心,计算出的过程能力指数Cp1,下列推断中,正确的有( )。A.上下规格限与上下控制限重合B.上规格限位于上控制限上方C.下规格限位于下控制限上方D.此时Cpk=CpE.此时过程的不合格品率高于1%

S图的下控制限( )。A.有时等于0B.恒等于0C.不能等于0D.等于X-A2S

A工厂生产某种特种设备的主轴,技术要求为50 ±0.1mm。现每次抽检5件,共抽检了25批,决定用-s控制图进行分析。查表得子组n=5时,A1= 1.342,A2=0.577,A3= 1.427,B3 =0,B4 =2.089。则:图的上、下控制限是( )。

某-s控制图中,图的中心线、上控制线、下控制线分别为15.033、16.536和 13.530;s图的中心线为1.006,上控制线为2.211,无下控制线。则该控制图每组的样本数是( )。A. 4 B. 5 C. 6 D. 7

-s图的绘图步骤包括( ),延长统计控制状态下的-s控制图的控制限,进入控制用控制图阶段,实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则,取得预备数据C.计算-s图的控制限,绘制控制图D.与容差限比较,计算过程能力指数E.检验过程能力指数是否满足技术要求

A工厂生产某种特种设备的主轴,技术要求为50 ±0.1mm。现每次抽检5件,共抽检了25批,决定用-s控制图进行分析。查表得子组n=5时,A1= 1.342,A2=0.577,A3= 1.427,B3 =0,B4 =2.089。则:s图的上、下控制限是( )。A. UCLs=0.0543 B. LCLs=0C.无下控制线 LCLs D. UCLs=0.035

图( )是前馈控制系统。A.B.C.D.

Levey-Jennings质控图以±3s为A.警告限B.失控限C.在控限D.误差限E.系统误差限

s图的下控制限( )。[2008年真题]

常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图,图中组成部分有()。A、上、下控制限B、公差界限C、子样数据的描点序列D、控制中心线E、数组

LAL表示()。A、下辅助线B、下控制限C、上警告限D、上辅助线

多选题控制图由(  )组成。A上、下控制限B规范限C中心线D点子链

填空题均数控制图中,上、下控制限按照()值绘制,上、下警告限按照()值绘制,上、下辅助线按照值绘制。

单选题用来区分合格与不合格的是(  )。A上控制限B下控制限C公差D规格限

单选题Levey-Jennings质控图以x±3S为()A警告限B失控限C在控限D误差限E以上均都不是

单选题Levey-Jennings质控图以平均值±3S为()A警告限B失控限C在控限D误差限E以上均都不是

多选题质控图至少应包括()A上控制界限B下控制界限C中心线D允许误差限E允许不精密度限

单选题LAL表示()。A下辅助线B下控制限C上警告限D上辅助线