试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。
试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。
参考解析
解析：
答：电气元件接触不良会使接触电阻增加。当有电流通过时，会因发热量增大而形成局部过热。与此相反，整流管、晶闸管等器件损伤后，将不会发热而出现冷点。通过局部过热及所出现的冷点的检测，便可以探测出电气元件故障。电气元件故障通常采用红外热像仪进行探测。
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已知某国国际收支平衡表中，经常项目差额160亿美元，资本和金融项目差额为-100亿美元，误差与遗漏为1o亿美元，则该国储备资产增减额为（ ）。A.70亿元B.-70亿美元C.+60亿美元D.+270亿美元