关于P控制图的说法，正确的有（ ）。A.用于控制过程的不合格品率B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽D.统计基础为二项分布E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
关于P控制图的说法，正确的有（ ）。
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
相关考题：
有关P图的叙述正确的是()。 A.p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等，则p控制图的Lc、LP和UCLP是凹凸状的
下列关于p图的描述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率p的控制图
在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此 GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。A．当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C．选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D．不标出LCL控制线E．不标出UCL和LCL控制线
关于常规计量控制图与P图的对比，正确的有（ ）。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求、测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E.P图更为灵敏
下列有关p图的叙述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则户控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率P的控制图
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布
关于控制图选用的说法,正确的有( )。A.当子组样本量较大时,为方便计算应选取均值一极差图SXB 关于控制图选用的说法，正确的有（ ）。A.当子组样本量较大时，为方便计算应选取均值一极差图B.对于计数控制图，当样本量不同时应选择P图或u图C.当控制对象为计件值时应选择C图或"图D.计量控制图比计数控制图效率高，应尽量选用计量控制图E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
下列关于p图的描述正确的有（ ）。A. p图的统计基础是泊松分布B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E. p图是控制过程的合格品率p的控制图
下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中，正确的有（ ）。A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图B.计量控制图的检出力高于计数控制图C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性D.使用X-R图时样本量（子组大小）宜取4或5E.使用p图和u图时样本量（子组大小）必须为常数
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时，CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
-s图的绘图步骤包括（ ），延长统计控制状态下的-s控制图的控制限，进入控制用控制图阶段，实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则，取得预备数据C.计算-s图的控制限，绘制控制图D.与容差限比较，计算过程能力指数E.检验过程能力指数是否满足技术要求
如果某过程的过程能力指数Cp = Cpk = 1.33，利用单值控制图对过程进行监控， 则关于该控制图控制限与规范限关系的说法，正确的是（ ）。A.上下控制限间的距离与上下规范限间的距离相同B.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的2倍C.上下控制限间的距离约为上下规范限距离的1. 33倍D.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的1. 33倍
下列关于p控制图的叙述中，正确的有（ ）。[2008年真题]A. p图是控制生产过程的加工时间的控制图B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图C. p图中的各个子组大小可以不相等D. p图的统计基础是二项分布E. p图的统计基础是泊松分布
关于控制图控制限的说法，正确的有（）。A.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关B.收集的子组个数越多，控制限估计得越准确C.控制用控制图的控制限由分析用控制图的控制限转化而来D.控制用控制图的控制限一旦确定，就不能变更E.可以用规范限代替控制限
关于不合格品率控制图的说法，正确的有（ ）。A.子组大小可以不相等B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化D.用于分析过程不合格品率的波动E.理论基础是指数分布
关于p控制图的说法，正确的有（）。A. p图是控制生产过程的加丁时间的控制图B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图C. p图中的各个子组大小可以不相等D. p图的统计基础是二项分布E.p图的统计基础是泊松分布
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。A.用于控制过程的不合格品率B.当每个子组的大小不同时，常规p图的控制限呈凹凸状C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽D.统计基础为二项分布E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
关于控制图选用的说法，正确的有（）。A.当子组样本量较大时，为方便计算应选取均值-极差图B.对于计数控制图，当样本量不同时应选择p 图或u图C.当控制对象为计件值时应选择c图或u图D.计量控制图比计数控制图效率高，应尽量选用计量控制图E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
关于所使用的控制用控制图的说法，正确的有（）。A.均值图上的控制上限为公差上限4.1，控制下限为公差下限3. 9B.均值图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的平均值C.标准差图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的标准差D.如果有点子出界，则需重新修订控制限
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设
下列关于控制图的控制限的描述中，正确的有（ ）。A.对于同样的样本数据，选择不同类型的控制图，得到的控制限也不同B.控制用控制图的控制限一旦确定，就不能变更C.收集的样本子组数越多，计算得到的控制限估计得越准确D.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关E.控制用控制图的控制限是由分析用控制图的控制限转化而来的
关于常规计量控制图与图的对比，正确的有（ ）。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E. p图更为灵敏
在p控制图中，若每个子组不全相等，则P控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。A.当ni 变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B.当ni 变化较大时，可采用标准化变量的方法C.选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D.不标出LCL控制线E.不标出UCL和LCL控制线
多选题在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。A当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D不标出LCL控制线E不标出UCL和LCL控制线
多选题下列关于p图的描述正确的有（ ）。Ap图的统计基础是泊松分布B如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的Ep图是控制过程的合格品率P的控制图