头部r刀最小射程在焦点平面直径4mm，用0.6cc电离室测量此射野，输出剂量所得结果是（）A、与实际值相同B、比实际值大C、数据重复性差D、数据重复性小，可以采用E、数据与实际值相差较大，不能使用

头部r刀最小射程在焦点平面直径4mm，用0.6cc电离室测量此射野，输出剂量所得结果是（）

  • A、与实际值相同
  • B、比实际值大
  • C、数据重复性差
  • D、数据重复性小，可以采用
  • E、数据与实际值相差较大，不能使用

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确定渐进多焦点镜片远用配戴中心移心量的方法是：测量镜架几何中心水平距；计算水平移心量为 ( )mm。A.最大直径B.最小直径C.宽度D.高度
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用游标卡尺测量内孔直径时,应轻轻摆动卡尺,以便找出最小值。() 此题为判断题(对，错)。
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钢丝绳的直径用游标卡尺测量时应取测得的最小数值。此题为判断题(对，错)。
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用钻孔法检查管道的锈蚀情况，在可疑处钻孔的直径应为2~4mm。此题为判断题(对，错)。
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电离室的电极板与X线束边缘的距离() A、应大于次级电子在空气中的射程B、应小于次级电子在空气中的射程C、应等于次级电子在空气中的射程D、应大于或等于次级电子在空气中的射程E、应小于或等于次级电子在空气中的射程
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关于焦点极限分辨率(R)的叙述，错误的是A．R是无量纲的数B．焦点尺寸小R大C．R是X线管焦点的成像特性之一D．R值大的焦点成像性能比R值小的好E．R是在规定条件下不能成像的最小空间频率值
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焦点的极限分辨率(R)的叙述，错误的是A．R是在规定测量条件下不能成像的最小空间频率值B．线量分布为单峰时，R大C．线量分布为多峰时，R小D．R值小的焦点成像性能好E．焦点尺寸小，R大
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在用电离室测量高能电子束时，有效测量点应位于电离室中心前方的（）A、0.40rB、0.50rC、0.60rD、0.70rE、0.75r
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临床应用中常用于测量较小的光子线射野的测量设备是（）A、指型电离室B、半导体电离室C、胶片D、热释光剂量计E、凝胶剂量计
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对小光子线射野的PDD测量，错误的是（）A、需要准确确定电离室的有效测量点位置B、使用0.1cm3的电离室，其中心电极平行于光子射野中心轴C、使用半导体探头D、使用小收集电极的平行板电离室E、延长源皮距
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焦点极限分辨率（R）的叙述，错误的是（）。A、R是无量纲的数B、焦点尺寸小分辨率大C、R是X线管焦点的成像特性之一D、R值大的焦点成像性能比R值小的好E、R是在规定条件下不能成像的最小空间频率值
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高能X线剂量校准时，水模体应足够大以提供足够的散射体积，在电离室测量射野边界外的水模体最小宽度是（）A、1cmB、2cmC、3cmD、4cmE、5cm
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确定渐进多焦点镜片远用配戴中心移心量的方法是：测量镜架几何中心水平距；计算水平移心量为（）mm。A、最大直径B、最小直径C、宽度D、高度
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用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差时包容且距离为最小的俩（）平面间的距离。
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用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差是包容表面且距离为最小的两（）平面间的距离。A、垂直B、相交C、平行
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用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。A、最小条件B、包容原则C、相关原则
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在一个测量列中，最大测量值与最小测量之差（），用R表示。A、最大误差B、极差C、变差D、绝对误差
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在一个测量列中，最大测量值与最小测量值之差即为（），用R表示。A、最大误差B、极差C、变差D、绝对误差
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在正交平面上测量的角度有（）A、刀倾角λsB、主偏角KrC、前面r0
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单选题以下的那一选择项是正确的（）A电离室测量与电离室的工作电压无关；电离室测量时不具有方向性B电离室测量与电离室的工作电压有关；电离室测量时不具有方向性C电离室测量与电离室的工作电压无关；电离室测量时具有方向性D电离室测量与电离室的工作电压有关；电离室测量时具有方向性E电离室测量与电离室的灵敏体积无关；电离室测量时不具有方向性
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单选题临床应用中常用于测量较小的光子线射野的测量设备是（）A指型电离室B半导体电离室C胶片D热释光剂量计E凝胶剂量计
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单选题射野输出因子（准直器散射因子Sc）（）。A随射野增大而减小；可直接用电离室在空气中测量B随射野增大而减少；可直接用带有建成套的电离室在空气中测量C随射野增大而增加；可直接用电离室在空气中测量D随射野增大而增加；可直接用带有建成套的电离室在空气中测量E随射野增大而减少；不能直接用电离室在空气中测量
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单选题在正交平面上测量的角度有（）A刀倾角λsB主偏角KrC前面r0
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单选题焦点的极限分辨率(R)的叙述，错误的是（　　）。AR是在规定测量条件下不能成像的最小空间频率值B线量分布为单峰时，R大C线量分布为多峰时，R小DR值大的焦点成像性能好E焦点尺寸小，R小
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单选题对小光子线射野的PDD测量，错误的是（）A需要准确确定电离室的有效测量点位置B使用0.1cm3的电离室，其中心电极平行于光子射野中心轴C使用半导体探头D使用小收集电极的平行板电离室E延长源皮距
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单选题用电离室测量高能X线剂量是，有效测量点位于（）A电离室中心前方的0.5r处B电离室中心前方的0.55r处C电离室中心前方的0.6r处D电离室中心前方的0.65r处E电离室中心前方的0.7r处
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多选题头部r刀最小射程在焦点平面直径4mm，用0.6cc电离室测量此射野，输出剂量所得结果是（）A与实际值相同B比实际值大C数据重复性差D数据重复性小，可以采用E数据与实际值相差较大，不能使用
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