检测各种金属应选用()邻近开关。A、超声波B、永磁型及磁敏元件C、高频振荡D、光电效应

检测各种金属应选用()邻近开关。

  • A、超声波
  • B、永磁型及磁敏元件
  • C、高频振荡
  • D、光电效应

相关考题:

检测各种非金属制品,应选用( )型的接近开关。 A.高频振荡B.永磁型及磁敏元件C.电容D.霍尔

开关柜暂态地电压局部放电检测,若检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于( )dBmV,应查明原因。10 $; $20 $; $30 $; $40

若开关柜暂态地电压局部放电检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于10dBmV,应查明原因。

若开关柜暂态地电压局部放电检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于10d错mV,应查明原因。

暂态地电压局部放电检测规定,若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于30d错mV,应查明原因。( )

若暂态地电压局部放电检测开关柜检测结果与()的差值大于20dBmV,应查明原因(A)环境背景值 (B)历史数据 (C)同批次开关柜检测结果 (D)邻近开关柜检测结果

开关柜暂态地电压局部放电检测规定,若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于20d错mV,应联系检修人员。

暂态地电压局部放电检测规定,若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于30dBmV,应查明原因。

开关柜检测结果与()、()或邻近开关柜检测结果的差值大于20dBmV,应查明原因 初始数据 $;$环境背景值 $;$历史数据 $;$环境数据

开关柜暂态地电压局部放电检测规定,若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于20dBmV,应联系检修人员。

若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于( )dBmV,应查明原因。10$;$20$;$30$;$40

暂态地电压局部放电检测检测前应()。(A)检查开关柜设备上无其他作业 (B)带电显示装置是否正常 (C)观察开关柜内断路所处位置 (D)开关柜金属外壳应清洁并可靠接地

若开关柜检测结果与()的差值大于20DBmV,需查明原因。环境背景值$;$信号幅值$;$历史数据$;$邻近开关柜检测结果

若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于(),应查明原因。

当检测体为金属材料时,应选用()接近开关。A、阻抗型B、电阻型C、高频振荡型D、电容型

当检测体为()时,应选用电容型接近开关。A、透明材料B、金属材料C、非金属材料D、不透明材料

当检测体为()时,应选用电容接近开关。A、透明材料B、不透明材料C、金属材料D、非金属材料

选用接近开关时应注意对工作电压、负载电流、响应频率、()等各项指标的要求。A、检测距离B、检测功率C、检测电流D、工作速度

当检测体为金属材料时,应选用高频振荡型接近开关。

检测各种非金属制品,应选用()型的接近开关。A、电容B、永磁型及磁敏元件C、高频振荡

检测各种金属,应选用()型的接近开关。A、超声波B、永磁型及磁敏元件C、高频振荡D、光电

当检测体为非金属材料时,应选用()接近开关。A、高频振荡型B、电容型C、电阻型D、阻抗型

检测各种非金属制品,应选用()型的接近开关。A、电容B、永磁型及磁敏元件C、高频振荡D、霍尔

开关柜检测前应检查开关柜设备上无其他作业,开关柜()应清洁并可靠接地。A、金属外壳B、金属构架C、外壳D、屏蔽线

开关柜暂态地电压检测若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于25dBmV,应查明原因。

若开关柜检测结果与环境背景值、历史数据或邻近开关柜检测结果的差值大于(),应查明原因。A、5dBmVB、10dBmVC、15dBmVD、20dBmV

选用接近开关时应注意对工作电压、负载电流、响应频率、()标的要求。A、检测电流B、工作速度C、检测功率D、检测距离