消除高压测试线电晕对测量介质损耗因素影响的主要措施是（）A、降到测试电压B、提高测试电压C、增大高压测试线的直径D、采用细铜线

消除高压测试线电晕对测量介质损耗因素影响的主要措施是（）

  • A、降到测试电压
  • B、提高测试电压
  • C、增大高压测试线的直径
  • D、采用细铜线

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影响油品介质损耗因素的原因有哪些?
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。A对B错
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影响泄漏电流测量结果的外界因素主要有（）。A、高压导线对地电晕电流B、空气湿度、试品表面的清洁程度C、环境温度、试品温度D、强电场干扰
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绝缘油中的水份是影响其介质损耗的主要因素。
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下列试验中，（）项是绝缘性能测试。A、绝缘电阻测量B、介质损耗测量C、泄漏电流测量D、直流电阻测量
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在耐压试验时，抑制或消除电晕引起的测量误差的主要措施之一是，采用极间障，改变不对称电场中的极间放电条件（）。
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电力线路的电导是由（）、绝缘子泄漏电流的有功损耗和电缆线路的介质损耗所形成的。A、电感损耗B、电晕损耗C、自感损耗D、电抗损耗
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用电导参数来说明（）。A、电晕损耗B、沿绝缘子漏电所致的损耗C、导线间的电容损耗D、电缆的介质损耗
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超高压系统产生的电晕是一种无功功率损耗。（）
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分析小电容量试品的介质损耗因素tgδ测量结果时，应特别注意哪些外界因素的影响？
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QS1型交流电桥是测量介质损耗正切值的专用仪器，适用于变压器、电机、电缆等高压设备介质损耗正切值的测量。
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。
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行波在理想无损线路上传播时，能量不会散失，但在实际线路中都是有损耗的，引起能量损耗的因素有（）A、导线电阻B、绝缘的泄漏电导与介质损耗C、极高频或陡波下的辐射损耗D、冲击电晕
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智能电力变压器高压套管监测IED。高压套管监测IED主要用以监测高压套管的电容量和介质损耗因数，用以评估高压套管的可靠性状态，其中介质损耗因数采用绝对测量法。
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下列试验中，（）项不是绝缘性能测试。A、绝缘电阻测量；B、介质损耗测量；C、泄漏电流测量；D、直流电阻测量。
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进行高压交流架空送电线无线电干扰测量时，如果使用杆状天线测量，应当避免杆状天线端部的电晕放电影响测量结果，当发生电晕放电时，应移动测量仪及天线位置，在不发生电晕放电的地方测量。
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影响介质损耗的因素有几种？
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影响设备介质损耗测试的外部因素有（）。A、温度、湿度B、表面脏污C、电场磁场D、试验接线方式
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绝缘油介质损耗测试以（）次有效测量值的平均值作为试样的介质损耗因数。A、1B、2C、3D、4
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测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，影响测试结果的因数包括（）。A、温度、湿度的影响B、电场干扰影响C、外界磁场的影响D、试品表面泄漏的影响
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在耐压试验时，抑制或消除电晕引起的测量误差的主要措施之一是：改善引线表面的电场，以减小电晕的影响（）。
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电容量和介质损耗因数试验中现场测量存在（）干扰影响时，应采取相应措施进行消除。A、电场B、磁场C、机械波D、引力波
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单选题下列因素中对波能量损耗影响最大的是（）。A绝缘的泄漏电导B导线电阻C冲击电晕D大地电阻
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填空题对介质损耗的主要影响因素是（）和（）。
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判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变电压的相位，测量tanδ的方法选相倒相法。A对B错
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判断题进行高压交流架空送电线无线电干扰测量时，如果使用杆状天线测量，应当避免杆状天线端部的电晕放电影响测量结果，当发生电晕放电时，应移动测量仪及天线位置，在不发生电晕放电的地方测量。A对B错
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判断题智能电力变压器高压套管监测IED。高压套管监测IED主要用以监测高压套管的电容量和介质损耗因数，用以评估高压套管的可靠性状态，其中介质损耗因数采用绝对测量法。A对B错
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