下列不宜采用擦拭法测量表面污染的是:() A.环境γ本底高B.固定表面污染C.松散表面污染
下列不宜采用直接法测量表面污染的是:() A.环境γ本底高B.固定表面污染C.松散表面污染
氧化钴氧量计表面有尘粒等污染是会造成较大的测量误差。
α、β表面污染间接测量法只能测定可去除的表面污染。
采用经过（）或已知有效的清洁和去污染操作规程进行设备清洁；必要时，应当对（）设备表面的残留物进行检测。
测量tgδ时有（）等外界影响因素都能影响到测量数据。A、表面污染B、温度C、湿度D、加压时间
α、β表面污染可以通过直接测量方法来测定，但不宜通过间接方法测定。
发现制药用水微生物污染达到警戒限度、（）时应当按照操作规程处理。
直接测量α表面污染时，探头离污染表面的距离不大于（）cm。A、0.8B、1C、0.5D、1.5
测量表面污染时，探测器应尽量地接近，而不要接触被测物体，这是为避免（）探测器。A、碰坏B、击穿C、活化D、沾污
用MPR200＋PB-GM2来测量物体β表面污染，非表面污染的控制限值为净计数＜（）。A、5c/sB、4c/sC、10c/sD、6c/s
在核电厂中，工作场所辐射监测包括哪几种（）。 ①外照射水平监测 ②表面污染监测 ③空气污染监测 ④人员体内污染测量A、①②④B、②③④C、①③④D、①②③
测量表面污染时，（）应尽量地接近而不要接触被测的物体。
α、β表面污染直接测量法测定可去除的与固定的表面污染之和。
β表面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cm。A、0.5B、1.0C、1.5D、2.0
臃面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cmA、0.5B、1.0C、1.5D、2.0
填空题采用经过（）或已知有效的清洁和去污染操作规程进行设备清洁；必要时，应当对（）设备表面的残留物进行检测。
单选题β表面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cm。A0.5B1.0C1.5D2.0
判断题α、β表面污染直接测量法测定可去除的与固定的表面污染之和。A对B错
判断题α、β表面污染间接测量法只能测定可去除的表面污染。A对B错
单选题臃面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cmA0.5B1.0C1.5D2.0