现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。


相关考题:

现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ,当出现较大的电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值均比真实值大。( )

现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。

电压互感器、耦合电容器相对介质介质损耗因数缺陷:初值差().

测量耦合电容器的电容量和介质损耗因数时,多节串联的应()测量。测量前应确认外绝缘表面清洁、干燥,分析时应注意温度影响。

对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。A、测量电位分布B、火花间隙放电叉C、热红外检测D、测量介质损耗因数tgδ

击穿强度高,介质损耗因数tgδ小的绝缘油,体积电阻一定小。

测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时,同一绕组的套管()。

现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()A、桥体加反干扰源B、将试验电源移相或选相、倒相C、改用与干扰源同步的电源作试验电源D、将电桥移位,远离干扰源

现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?

并联电容器装置的放电线圈()。A、外观检查;B、绕组电阻测量;C、绝缘电阻及介质损耗因数测量;D、工频电压(干试)试验

耦合电容器出厂验收应对耦合电容器外观,出厂试验中的电容量测量、介质损耗因数测量、工频耐压、局部放电试验等关键项目,以及外绝缘爬电距离、干弧距离测量进行旁站见证验收。

对于SF6断路器断口间并联电容器电容量和介质损耗因数检测说法错误的是()A、容量初值差不超过±5%(警示值)B、介质损耗因数油浸纸≤0.006C、介质损耗因数膜纸复合≤0.0025D、对于瓷柱式断路器,与断口一起测量

耦合电容器的主要参数是()A、标称电容量Cb和绝缘电阻B、介质损耗因数tgδ和额定电压C、标称电容量Cb和介质损耗因数tgδD、标称电容量Cb和高频等效电阻r

介质损耗因数tgδ的含义?

当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。

测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么?

现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()。A、桥体加反干扰源B、将试验电源移相或选相、倒相C、改用与干扰源同步的电源作试验电源

以下设备可用于测量介质损耗的有()。A、西林电桥B、介质试验器C、智能型介质损耗测量仪D、单臂电桥

为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?

用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。

为了保证电容量和介质损耗因数测量的准确,对测量仪器的要求如下:介质损耗因数的测量不确定度不大于(),电容量的测量不确定度不大于()。

测量局部放电时,要求试验用耦合电容器()。A、介质损耗因数小B、绝缘电阻高C、泄漏电流小D、在试验电压下无局放

现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()。A、标准电容器有损耗B、外部电场干扰C、试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响D、空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响

判断题用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。A对B错

单选题现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()A桥体加反干扰源B将试验电源移相或选相、倒相C改用与干扰源同步的电源作试验电源D将电桥移位,远离干扰源

问答题一台变压器,用QS1交流电桥测量高压绕组对其他绕组及地的介质损耗tgδ和Cx时,已知试验电压为10KV,标准电容CN为50皮法,分流器在0.06档,电桥平衡时,R3为64欧,e为0.4欧,tgδ为0.8%,试计算Cx之值(R4为3184欧)。