在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()。A.探头型式B.晶片尺寸C.波束方向D.上述都有
单探头法探测与波束轴线垂直的缺陷最灵敏。() 此题为判断题(对，错)。
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
GIS筒体焊缝超声波检测中，为了有效检出坡口未熔合，应尽量使波束轴线与坡口面垂直，一般选用70°短前沿探头。
超声检测的单探头法难以检出的缺陷是 （）。A、 与波束轴线垂直的片状缺陷B、 立体型缺陷C、 与波束轴线平行的片状缺陷D、 A和B
GIS筒体焊缝超声波检测中，为了有效检出坡口未熔合，应尽量使波束轴线与坡口面垂直，一般选用（）短前沿探头。A、45°B、60°C、70°D、73.4°
探头波束在远场区能量的集中以（）。A、波束边沿最大B、波束中心最大C、波束中心与边沿一样大D、与波束宽度成反比
用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A、超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B、超声波束与缺陷最大表面平行C、底面回波次数尽可能地多D、超声波束与试件底面垂直
晶片尺寸较小的探头发射的超声波束，其远场覆盖面积（）。
用以表示超声波探头辐射波束中心轴线与晶片表面不垂直度的术语是：波束中埔线（）A、直向角B、扩散角C、偏向角D、入射角
探头晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中。
探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
管材超声波探伤，（）是入射纵波束轴线与管材横断面中心线的夹角。
单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A、平行的B、垂直的C、倾斜的
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有
较小的探头晶片尺寸发射的超声波束，其远场覆盖面积（）。A、较大B、较小C、不变D、较窄
判断题探头晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中。A对B错
单选题单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A平行的B垂直的C倾斜的
单选题在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A探头型式B晶片尺寸C波束方向D上述都有
单选题用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B超声波束与缺陷最大表面平行C底面回波次数尽可能地多D超声波束与试件底面垂直
填空题晶片尺寸较小的探头发射的超声波束，其远场覆盖面积（）。
填空题探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
单选题探头波束在远场区能量的集中以（）A波束边沿最大B波束中心最大C波束中心与边沿一样大D与波束宽度成反比
单选题超声检测的单探头法难以检出的缺陷是 （）。A 与波束轴线垂直的片状缺陷B 立体型缺陷C 与波束轴线平行的片状缺陷D A和B
判断题单探头法探测与波束轴线垂直的缺陷最灵敏。A对B错
填空题管材超声波探伤，（）是入射纵波束轴线与管材横断面中心线的夹角。